C. Spektroradyometreler
D. Dijital fotoğraflar (156, 157).
A. Spektrofotometreler
Rengin geçirgenliğinin, gerçek emiliminin ve yansımasının ölçülmesinde en yaygın olarak kullanılan aletlerdir. Örnekten yansıyan ışığın, beyaz bir yüzeyden yansıyan ışığa olan oranını ölçerler (Şekil VII). Spektrofotometrelerin uzun süre doğru ve standartlara uygun sonuçlar vermesi, bu aletlerin renk ölçümünde ilk tercih edilen cihaz olmasını sağlamıştır. Spektrofotometreler çok sayıda sensor içerir, böylece insan gözünün ayırt edemediği renk farklılıklarını bile tespit edebilmektedir. Ayrıca birden fazla ışık kaynağı ile ölçüm yapabildiklerinden metamerizmi ayırt edebilirler. Kalite kontrolü ve rengin tarif edilmesinde kullanılırlar (156 ,159, 161).
Şekil VII. Spektrofotometrenin esasını oluşturan bölümleri gösteren şema. B. Kolorimetreler
Kolorimetreler, belirli bir görme açısı ve sabit ışık kaynağı kullanarak renk ölçümü yapabilmekte ve sadece “tristimulus” değerleri cinsinden veriler elde edilmektedir. İnsan gözünün retinasında olduğu gibi üç çeşit sensör içerir. Spektroradyometreler ve spektrofotometrelerle kıyaslandığında; kolorimetrelerin boyutları daha küçük, kullanımları daha kolay ve maliyetleri daha düşüktür. Ağız içerisinde kullanılabilmeleri için, özel bir başlıkla yüzeye adapte edilmeleri gereklidir. Ancak, bu cihazlar kısa sürede eskimekte ve ölçümler tekrarlanabilirliğini kaybetmektedir. Tek bir gözlemci açısı ve ışık kaynağı kullanması bu aletin dezavantajıdır (156).
C. Spektroradyometreler
Radyometrik değerlerin ölçümünde kullanılmak üzere tasarlanmışlardır. Genellikle renk reprodüksiyon işlemlerinde kullanılırlar. Bu aletlerin avantajı, ölçüm sonuçlarının gerçek görüş şartlarında gerçekleştirebilmeleridir. Ölçüm açısındaki küçük bir değişikliğin sonuçta büyük sapmalara neden olması, bu aletlerin kullanımını zorlaştırmaktadır (156).
D. Dijital Kameralar
Cismin üzerindeki bir noktanın değil de, cismin genelinin renginin ölçülmesine olanak verdiği için günümüzde oldukça popülerdir. Bu sistemlerde nesnelerin
görüntüleri, standart şartlarda ışık kaynağı altında dijital kamera kullanılarak alınır. Sonuçlar, kameranın bağlı bulunduğu bilgisayar tarafından sıklıkla “CIELAB” değerleri cinsinden ifade edilir. Bu sistemler bir dijital kamera, bir bilgisayar, görüntüyü yakalamak için bir sürücü, bilgisayar programı ve bir renk sensörü içerir. Cihazın yanlış kullanımı ve kalibrasyonun hatalı yapılması, ölçümün de hatalı olmasına sebep olur (156).
7.2. YÜZEY ÖLÇÜMLERİ
Yüzey özelliği; fonksiyon, estetik ve biyolojik uyum açısından önemli bir faktördür. Restoratif materyallerin yüzeyinin parlak ve pürüzsüz olması istenir. Pürüzlü yüzeyler; materyallerin bükülme dayanıklılığını azaltarak, karşıt sert dokularda aşınmaya ve bunun neticesinde de dişlerde boyanma, leke, plak ve diş taşı birikimine neden olur. Bununla birlikte, yumuşak dokularda enfeksiyon ve çürük sıklığının artmasına da yol açabilir. Pürüzlü yüzeylerde serbest yüzey enerjisi daha küçük olduğundan, mikroorganizmaların tutunması ve kolonizasyon kolaylaşır. Bu olumsuzlukları gidermek, hasta konforu, optimum estetik, ağız hijyeni ve klinik başarı elde etmek için, restoratif materyallerin yüzey pürüzlülüğü minimuma indirilmelidir. Yüzey pürüzlülüğünün değerlendirilmesinde sıklıkla “Profilometre” ve “AFM” kullanılmaktadır. Bunların yanı sıra, yüzey özelliklerinin değerlendirilmesini amaçlayan çalışmalarda; Taramalı tünelleme mikroskobu (Scanning Tunneling Microscope = STM), Taramalı elektron mikroskobu (Scanning Electron Microscope = SEM), Geçirimli elektron mikroskobu (Transmission Electron Microscope = TEM) ve Optik interferometrik mikroskop (Optical Interferometric Microscope = OFM) gibi cihazların kullanıldığı da bilinmektedir (162-164).
a. Profilometre Analizi
Profilometre cihazı, yüzey pürüzlülüğünü değerlendirmek amacıyla, tarayıcı elmas bir ucun örnek yüzeyinde gezinirken, elde edilen yüzey pürüzlülüğü bulguları dijital olarak hesaplanmasını sağlar. Yüzeylerin profilometre ile incelenmesinde sıklıkla kullanılan parametreler “Ra”, “Rz”, “Rpm” ve “Rz:Rpm” oranıdır .
Ra parametresi; bir yüzeyin ortalama pürüzlülüğü olarak tanımlanır ve profilde tüm pürüzlülük mesafesinin merkez çizgiye göre uzaklığı ölçülerek aritmetik ortalamanın alınmasıyla saptanır (Şekil VIII).
Şekil VIII: Ra parametresi diagramı.
Rz yüzey parametresi; ard arda gelen beş parçada, ortalama tepe–vadi yüksekliği olarak tanımlanır (Şekil IX).
Şekil IX: Rz parametresi diagramı.
Rpm yüzey parametresi; ard arda gelen beş örnek parçasındaki ana derinlik seviyesi olarak tanımlanır (Şekil X).
Şekil X: Rpm parametresi diagramı.
İstisnai profil tepeleri bir dereceye kadar dikkate alınır. Ra ve Rz parametreleriyle karşıtlık gösterdiğinden, Rpm nispeten profil şekli hakkında bilgi verir. Küçük Rpm değeri; geniş tepeli ve dar vadili yüzeyleri, büyük Rpm değerleri ise; sivri ve keskin kenarlı profili gösterir. Rpm:Rz oranı önemli bir değerdir, çünkü profil şekli hakkında kayda değer bir bilgi verir. Bu oran 0.5’den daha yüksek ise keskin kenarlı profili, 0.5’den daha küçük ise yuvarlak kenarlı profili gösterir (163, 165).
b. Atomik Kuvvet Mikroskobu (Atomic Force Microscope = AFM)
Sıvı veya katı maddelerin yüzeyini analiz etmek için kullanılan AFM’den; elektronik, iletişim, biyoloji, kimya, otomotiv, uzay bilimi ve enerji endüstrisinde yaygın olarak yararlanılmaktadır. Bu yöntemden; ince veya kalın film şeklindeki kaplamalar, seramikler, kompozitler, camlar, yapay ve biyolojik zarlar, metaller, polimerler ve yarı iletkenlerin incelemesinde faydalanılmaktadır. Bununla birlikte; aşınma, bağlanma, temizleme, korozyon, asitleme, sürtme, yağlama, kaplama ve parlatma çalışmalarında da kullanılmaktadır (166, 167).
Profilometre ve görsel değerlendirmeye kıyasla daha fazla detay veren AFM incelemeleri; daha büyük bir çözünme ve üç boyutlu bir görüntü elde edilmesini sağlamaktadır. Nanometre (nm) seviyesinde, topoğrafik bir yüzey görüntüsü elde etmede ve moleküller arası kuvvetleri (nN, pN) ölçmede kullanılan bir sistemdir. Üç boyutlu bir yüzey görüntüsü üzerinde incelemeye olanak verdiği gibi, yüzey pürüzlülüğü parametrelerini de rakamsal olarak verebilir. Ancak, tarama yapılan saha
diğer yöntemlere göre küçük olduğundan, tekrarlanan ölçümlerde aynı sahayı yeniden bulmak zordur. Bazı cihazlarda inceleme yapılmadan önce kimyasal olarak etkileşimsiz olan malzeme yüzeyinin önce karbon ya da altın ile kaplanması gerekli iken, AFM cihazıyla yapılan çalışmalarda böyle bir ön hazırlığa gerek duyulmadan, doğrudan yüzey görüntüleri elde edilebilmektedir (Şekil XI) (166, 167).
Şekil XI: AFM probunun şematik görünümü
c. Taramalı Elektron Mikroskobu (Scanning Electron Mikroscope = SEM)
1600’lü yılların başında keşfedilen optik mikroskoplar, zamanla geliştirilseler dahi, büyültme güçlericü 2500’ü geçememiştir. Bu mikroskoplar bilimsel araştırmaların hızlanmasında önemli role sahip olsalar da, ışığın yarı dalga boyu olan 250nm’den daha küçük ayrıntıyı göstermeye imkan tanımamışlardır. Bu nedenle ışık yerine elektronların kullanıldığı, daha yüksek çözünürlük gücü sağlayan mikroskopların keşfine gidilmiştir. Işık mikroskobunun ayırma-büyütme gücünün yetersiz ve alan derinliğinin düşük olması, pürüzlü yüzeye sahip örneklerin yüksek büyütmelerde incelenmesinde yetersiz kalması ve sanayide incelenen malzemelerin kimyasal bileşenleri hakkında bilgi verememesi sebebiyle SEM’in kullanımı ön plana çıkarmıştır. Sanayi başta olmak üzere, tıp ve diş hekimliği alanlarında da genellikle sert yüzeylerin incelenmesine olanak sağlayan bu mikroskoplarda, incelenecek olan örneğin eni, boyu ve yüksekliği örnek haznesine uygun boyutlarda olmalıdır (Şekil XII) (168).
Şekil XII: SEM’in şematik görünümü.
Elektron mikroskoplar çalışma prensibi ve kullanım alanları yönünden; Transmission Elektron Mikroskobu (TEM) ve Scanning Elektron Mikroskobu (SEM) olarak iki gruba ayrılır. SEM’deki takip prosedüründe, dokudan kesit alınmamakta ve doku yüzeyinin altın gibi bir metal veya karbon ile kaplanması gerekmektedir. SEM’de; kaplanmış doku yüzeyine çarparak saçılan elektronların bir dedektör ile toplanmasıyla oluşan ve TEM’e göre daha büyük üç boyutlu bir görüntü elde edilir.
Bilimsel araştırmalarda kullanılan SEM; biyologlar tarafından bitki ve hayvan dokularının incelenmesinde, kimyagerler tarafından ise mikroskobik kristalleri, metal, plastik, seramik vs. yapısını incelemede kullanılmaktadır. Tıp alanında; anatomi, biyokimya, fizyoloji, mikrobiyoloji, patoloji, toksikoloi vb. birimlerde, adli tıpta ise; saç, deri parçaları gibi numunelerin incelenmesinde faydalanılmaktadır. Diş hekimliğinde; üç boyutlu cisimlerin pürüzlü yüzeylerinin incelenmesi ve yüzey topografisi çalışmalarında kullanılmaktadır. Bunların dışında; maddelerin içerik analizlerinde, uçak, otomotiv, savunma vb. sanayilerde kullanılan metallerin dayanıklılığının belirlenmesinde, arkeolojik çalışmalarda, malzeme hasarlarının incelemesinde ve tekstil sanayide hata analizlerinin belirlenmesi gibi pek çok çalışmada SEM’den yararlanılır (168).
GEREÇ VE YÖNTEM
Bu çalışmada; 3 farklı restoratif materyalden hazırlanan disklere ev tipi beyazlatma ajanının uygulanmasının ardından, restoratif materyallerin yüzey pürüzlülüğü ve renk değerlerindeki değişimin in-vitro olarak incelenmesi amaçlanmıştır.
Araştırmamızda; örnekleri aynı standartta hazırlamak için 2,5 mm eninde ve 10 mm çapında steril polietilen tüpler (99 adet), beyazlatma materyali olarak %16’lık karbamit peroksit (Opalescence PF) kullanıldı (Resim 1).
Resim 1: Çalışmada kullanılan beyazlatma materyali.
Çalışmamızda; restorasyon materyali olarak Amalgam (Cavex Avalloy), Cam iyonomer siman (Fuji II LC) ve Kompozit rezin (Grandio) kullanıldı (Tablo 3).
Materyal Ürün Üretici Firma
Amalgam Cavex Avalloy III Spill Cavex, Hollanda
Cam İyonomer Siman Fuji II LC ışıkla sertleşen CİS GC, Japonya
Kompozit Grandio A2 Syringe 4g Voco, Almanya
Beyazlatma materyali Opalescence PF Ev Tipi
Beyazlatma %16 Ultradent, ABD
Tablo 3: Çalışmada kullanılan materyaller.
Örnekleri saklamak üzere yapay tükürük, materyallerin hazırlanmasında amalgamatör ve LED ışın cihazları kullanıldı (Resim 2).
Resim 2: Çalışmada kullanılan amalgamatör ve LED ışın cihazı.
Örneklerin cilalanmasında ise, Flexi-Snap parlatma diskleri kullanıldı (Resim 3).
Resim 3: Çalışmada kullanılan parlatma diskleri.
Birinci gruptaki örneklere Amalgam, ikinci gruptakilere CİS ve üçüncü gruptakilere ise Kompozit rezin materyali yerleştirilmek üzere, örneklerin yerleştirileceği polietilen tüpler 33’erli üç eşit gruba ayrıldı.
Çalışmamızda; içeriğinde %45 Gümüş (Ag), %30.5 Kalay (Sn), %24 Bakır (Cu) ve %0.5 Çinko(Zn) bulunan ve gamma–2 fazı içermeyen homojen kompozisyonlu Cavex Avalloy marka amalgam kullanıldı (Resim 4).
Resim 4: Çalışmada kullanılan amalgam materyali.
Restorasyonun daha rahat yapılabilmesi için polietilen tüp, düz bir zeminde mikroskop camının üzerine konuldu. Amalgam kapsüller, amalgamatörde (TAC- 400M, Linea Tac, İtalya) üretici firmanın önerileri doğrultusunda 8 sn süre ile karıştırıldı ve amalgam fulvarı yardımıyla 33 adet tüp içerisine yerleştirildi (Resim 5).
Oluşan restorasyon artıkları uzaklaştırıldı. Örnekleri tüplerden çıkarmak ve parlatmak için 24 saat beklendi. 24 saat sonra üretici firmanın önerileri doğrultusunda, kalın grenliden ince grenliye doğru parlatma diskleri (Flexi-Snap KIT, Edenta, İsviçre) kullanıldı (Resim 6). Sonrasında tüpler örneklerden ayrıldı. Parlatılan örnekler 24 saat boyunca distile su içerisinde bekletildi.
Resim 5: Amalgam örneklerin hazırlanması.
Resim 6: Disk şeklinde hazırlanan örneklerin parlatılması. 2. Grup:
Çalışmamızda; günümüzde Class V kavitelerde ve süt dişlerinin restorasyonunda sıklıkla tercih edilen Fuji II LC marka Rezinle modifiye cam iyonomer siman kullanıldı (Resim 7).
Resim 7: Çalışmada kullanılan CİS materyali.
Cam iyonomer kapsüller amalgamatörde (TAC-400M, Linea Tac, İtalya) üretici firmanın önerileri doğrultusunda 10 sn süre ile karıştırıldı. Kapsül tabancısı yardımıyla 33 adet polietilen tüp içerisine yerleştirilen materyaller, ağız spatülü ile kondanse edidi. Polietilen tüplerin üst yüzeylerini düz bir şekilde elde etmek için mikroskop camı ve şeffaf bant kullanıldı. Örnekler, LED ışık (Dega, Çin) yardımıyla 20 sn süreyle polimerize edildi (Resim 8).
Oluşan restorasyon artıkları uzaklaştırıldı. Örnekleri tüplerden çıkarmak ve parlatmak için 24 saat beklendi. 24 saat sonra üretici firmanın önerileri doğrultusunda kalın grenliden ince grenliye doğru parlatma diskleri (Flexi-Snap KIT, Edenta, İsviçre) kullanıldı ve polietilen tüpler örneklerden ayrıldı. Parlatılan örnekler 24 saat boyunca distile su içerisinde bekletildi.
Resim 8: CİS örneklerin hazırlanması.
3. Grup:
Çalışmamızda; anterior ve posterior tüm kavitelerin restorasyonunda kullanılabilen üniversal, radyoopak ve ışıkla sertleşen, Grandio (Voco) marka bir nanohibrit kompozit rezin materyali kullanıldı (Resim 9).
Resim 9: Çalışmada kullanılan kompozit rezin materyali.
Kompozit rezin, polietilen tüpler içerisine bir ağız spatülü yardımıyla üretici firmanın önerileri doğrultusunda tabakalama tekniği ile 33 adet tüp içerisine yerleştirildi. Polietilen tüplerin üst yüzeylerini düz bir şekilde elde etmek için
mikroskop camı ve şeffaf bant kullanıldı ve LED ışık (Dega, Çin) yardımıyla 20 sn süre ile polimerize edildi (Resim 10).
Resim 10: Kompozit rezin örneklerin hazırlanması.
Oluşan restorasyon artıkları uzaklaştırıldı. Örnekleri tüplerden çıkarmak ve parlatmak için 24 saat beklendi. 24 saat sonra üretici firmanın önerileri doğrultusunda kalın grenliden ince grenliye doğru parlatma diskleri (Flexi-Snap KIT, Edenta, İsviçre) kullanıldı. Polietilen tüpler örneklerden ayrıldı. Parlatılan örnekler 24 saat boyunca distile su içerisinde bekletildi.
Restorasyonları tamamlanan toplam 99 adet örnekten (Resim 11), 90 örnek 10 adet amalgam, 10 adet CİS ve 10 adet kompozit rezin içeren 30’arlı 3 üç eşit gruba her biri farklı bir test cihazında (1.grup: profilometre, 2.grup: AFM 3. Grup: spektrofotometre) incelenmek üzere rastgele ayrıldı. Geriye kalan toplam 9 örnek, her materyalden 3 adet olacak şekilde, SEM çalışması yapmak üzere 4. grupta toplandı.
Resim 11: Hazırlanan örneklerle grupların oluşturulması.
Grupların oluşturulmasından sonra amalgam, CİS ve kompozit rezin örnekleri numaralandırıldı ve Profilometre ve AFM ile yüzey pürüzlülüğü, Spektrofotometre ile renk değerleri, SEM ile yüzey görüntüleri alınması amacıyla ilk ölçümler yapılmak üzere cam petri kutularına yerleştirildi.
Dicle Üniversitesi Bilimsel Araştırma ve Teknoloji Merkezi’nde yüzey pürüzlülüğünü değerlendirmek amacıyla Atomik Kuvvet Mikroskopisi (AFM) (Resim 12), yüzey resimlerini almak için Taramalı Elektron Mikroskopisi (SEM) (Resim 13) cihazları kullanıldı. Yeditepe Üniversitesi Sert Doku Laboratuarı’nda ise yine yüzey pürüzlülüğünü değerlendirmek amacıyla Profilometre (Resim 14), materyallerdeki renk değişimini ölçmek için Spektrofotometre (Resim 15) cihazları kullanıldı. Kullanılan cihazlar Tablo 4’te verilmiştir.
GRUP I
KOMPOZiT AMALGAM
Çalışmamızda yüzey pürüzlülüğünün ölçümünde kullandığımız profilometre cihazında, örneklerin yüzeyinde çatlak ve olukların olabileceği göz önünde bulundurularak farklı açılarla her örnek için dörder ölçüm yapıldı. Bununla birlikte, hata payını da azaltmak için, ölçümler tek bir araştırmacı tarafından yapıldı ve ortalama Ra (µm) değerleri belirlendi. Tüm örnekler beyazlatma öncesi ve sonrasında analize tabi tutuldu.
GRUP II
Yüzeyin pürüzlülük ve topografyasının analizinde kullandığımız AFM cihazı ile daha büyük çözünürlükte üç boyutlu bir görüntü elde edildi. Her örnek için 20X 20 µm’lik tek bir noktadan 0.2 Hz hız ile ölçüm yapıldı. Yüzey resimleri, 256X256 piksel çözünürlükte alındı ve sayısal olarak Ra(nm) değerleri belirlendi. Tüm örnekler beyazlatma öncesi ve sonrasında analize tabi tutuldu.
GRUP III
Beyazlatma uygulamalarıyla örneklerde meydana gelen renk değişimini belirlemek için, tüm materyaller spektrofotometre cihazı ile analize tabi tutuldu. Beyazlatma öncesi ve sonrasında yapılan ölçümlerde, cihaz tarafından CIELAB sistemine göre elde edilen veriler sayısal olarak kaydedildi.
GRUP IV
Restorasyonların morfolojik yüzey değişikliklerini tanımlamak ve örneklerin yüzey görüntülerini almak için, beyazlatma öncesi ve sonrasında tüm örnekler SEM ile incelendi. Her örnek; 1 kV enerji kullanılarak X5000 ile X10000 büyütmede görüntülendi.
Yapılan ölçümler sonucu elde edilen veriler kaydedildi. İlk ölçümlerin sonrasında örnekler, beyazlatma seansları arasında ağız ortamını taklit edebilmek amacıyla, cam petri kaplarındaki yapay tükürük solüsyonu içerisine yerleştirilip (Resim 16), ağzı kapatılarak ETÜV’e konuldu ve 37°C’de bekletildi.
Resim 12: AFM cihazı.
Resim 14: Profilometre Cihazı.
Resim 15: Spektrofotometre Cihazı.
Kullanılan cihaz Model Üretici firma
Profilometre Minolta
Spectrophotometer
Konica Minolta Sensing Inc., Japonya
CM-2600d
Atomik kuvvet
mikroskopisi XE-100E Park Systems, Güney Kore
Spektrofotometre Mahr Perthometer
M1/M1, PRN-10
Mahr GmbH Göttingen, Almanya
Taramalı elektron
mikroskobu Quanta FEG 250 FEI,Hollanda
Tablo 4: Kullanılan cihazlar.
Resim 16: Yapay tükürük içerisindeki örnekler.
Yapay tükürük solüsyonu, Samsun Canik Başarı Üniversitesi Moleküler Biyoloji ve Genetik Laboratuarı’nda hazırlandı. Hazırlama aşamasında; MgCl.6 H2O, CaCl2.2H2O, KH2PO4, HEPES, KCl ve NH4Cl bileşikleri bir beherde tartılmış
ve 800 ml saf suda çözündürülmüşlerdir. Ardından pH = 7 ortamının sağlanması için KOH ile titre edilmiş ve çözeltinin hacmi 1 litre saf su ile tamamlanmıştır. Hazırlanan yapay tükürüğün içeriği ve konsantrasyonları Tablo 5’te verilmiştir.
BİLEŞİK KONSANTRASYON
MgCl 0.2
CaCl2. 2H2O 1
KH2PO4 4
KCl 16
NH4Cl 4.5
KOH kullanılarak, karışımın pH’sı 7’ye ayarlandı
Tablo 5: Yapay tükürüğün içeriği (mM).
Yapay tükürük ortamından çıkarılan örnekler, beyazlatma uygulamasından önce basınçlı hava ile hafifçe kurulandı ve bu işlem her beyazlatma seansı öncesinde tekrarlandı.
Beyazlatma işlemi için, %16’lık karbamit peroksit ihtiva eden Opalescence PF marka beyazlatma materyali kullanıldı. Saydam, tatlandırılmış, yüksek viskoziteli, yapışkan ve pH’sı 6.5 olan bu materyal; diş hekimi gözetiminde evde kullanılan bir beyazlatma sistemidir ve birim doz şırıngalarla sağlanır.
Hazırlanan deney grupları Tablo 6’da verilmiştir.
Tablo 6: Hazırlanan deney grupları.
Tüm örnekler, üretici firmanın önerileri doğrultusunda günde 6 saat olmak üzere, toplam 14 gün süreyle beyazlatma işlemine tabi tutuldu (Resim 17).
Cihaz Amalga m CİS Kompozi t Çözelti Beyazlatm a Grup 1 Profilometre 10 10 10 Yapay tükürü k Opalescenc e PF%16 Grup 2 AFM 10 10 10 Yapay tükürü k Opalescenc e PF%16 Grup 3 Spektrofotometr e 10 10 10 Yapay tükürü k Opalescenc e PF%16 Grup 4 SEM 3 3 3 Yapay tükürü k Opalescenc e PF%16
Resim 17: Örneklere beyazlatma uygulaması.
Her 6 saatlik beyazlatma uygulamasından sonra, örnekler yumuşak bir fırça yardımıyla distile su ile yıkanıp, yenilenen yapay tükürük içerisinde ETÜV’e konuldu ve bu döngü 14 gün boyunca tekrarlandı. 14. günün sonunda tüm örneklerin yüzey pürüzlülüğü ile renk ölçümleri aynı cihazlarla son kez tekrarlanıp, veriler kaydedildi.
BULGULAR
Araştırmamızda kullandığımız; amalgam (Cavex Avalloy), CİS (Fuji II LC) ve kompozit rezin (Grandio) örneklerinin beyazlatma öncesi ve sonrası verileri istatistiksel analize tabi turuldu.
Ölçümsel değişkenler ortalama SD (±standart sapma) ile, kategorik değişkenler sayı ve yüzde (%) ile sunuldu. Verilerin normal dağılıma uyup uymadığına bakıldı.
Verilerin parametrik test varsayımlarını sağlamadığı görüldü. Bu nedenle grupların (Amalgam, CİS ve kompozit) ayrı ayrı ilk ve son pürüzlülük ölçüm değerlerinin karşılaştırılmasında Wilcoxon Testi uygulandı.
Amalgam, CİS ve kompozitin renk ölçüm değerlerinin üçlü karşılaştırmasında Kruskal Wallis H Testi uygulandı.
Ayrıca grupların ikili bağımsız (Amalgam-CİS, amalgam-kompozit, CİS- kompozit) karşılaştırılmasında ise Mann Whitney U Testi uygulandı.
Hipotezler çift yönlü olup, p≤0.05 ise istatistiksel olarak anlamlı sonuç kabul edildi. Araştırma verilerimizin istatistiksel değerlendirmesinde IBM SPSS 21.0 for windows istatistik paket programı kullanıldı.
Pürüzlülük değerlerini elde etmek için yüzey profilometresi ile her bir örneğin yüzeyinden dört farklı ölçüm yapıldı ve daha sonra bu dört değerin ortalaması alınarak tek bir veri elde edildi.
Amalgam örneklerinden elde edilen beyazlatma öncesi ilk (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 7’de verilmiştir.
Amalgam örneklerinden elde edilen beyazlatma sonrası son (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 8’de verilmiştir.
CİS örneklerinden elde edilen beyazlatma öncesi ilk (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 9’da verilmiştir.
CİS örneklerinden elde edilen beyazlatma sonrası son (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 10’da verilmiştir.
Kompozit rezin örneklerinden elde edilen beyazlatma öncesi ilk (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 11’de verilmiştir.
Kompozit rezin örneklerinden elde edilen beyazlatma sonrası son (Ra-µm) pürüzlülük değerleri Tablo 12’de verilmiştir.
Tablo 7: Profilometre ile beyazlatma öncesi her amalgam örneğinden alınan dört
farklı yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
Tablo 8: Profilometre ile beyazlatma sonrası her amalgam örneğinden alınan dört
farklı yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
YÜZEY PROFİLOMETRESİ- İLK ÖLÇÜM AMALGAM ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA A1 0.093 0.089 0.096 0.102 0.095 A2 0.088 0.129 0.141 0.153 0.12775 A3 0.114 0.149 0.127 0.132 0.1305 A4 0.184 0.139 0.152 0.197 0.168 A5 0.121 0.129 0.123 0.135 0.127 A6 0.159 0.145 0.1 0.117 0.13025 A7 0.179 0.202 0.189 0.171 0.18525 A8 0.181 0.183 0.2 0.218 0.1955 A9 0.216 0.131 0.1 0.179 0.1565 A10 0.155 0.14 0.139 0.136 0.1425
YÜZEY PROFİLOMETRESİ- SON ÖLÇÜM AMALGAM ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA A1 0.203 0.23 0.217 0.204 0.2135 A2 0.22 0.189 0.197 0.209 0.20375 A3 0.197 0.194 0.185 0.195 0.19275 A4 0.202 0.203 0.199 0.189 0.19825 A5 0.221 0.201 0.213 0.212 0.21175 A6 0.215 0.227 0.231 0.216 0.22225 A7 0.231 0.202 0.219 0.223 0.21875 A8 0.215 0.233 0.211 0.196 0.21375 A9 0.253 0.241 0.233 0.217 0.236 A10 0.197 0.189 0.202 0.21 0.1995
Tablo 9: Profilometre ile beyazlatma öncesi her CİS örneğinden alınan dört farklı
yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
YÜZEY PROFİLOMETRESİ- SON ÖLÇÜM CAM İYONOMER ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA C1 0.138 0.129 0.136 0.141 0.136 C2 0.127 0.149 0.123 0.136 0.13375 C3 0.197 0.193 0.178 0.166 0.1835 C4 0.185 0.19 0.166 0.171 0.178 C5 0.141 0.146 0.135 0.139 0.14025 C6 0.178 0.181 0.189 0.152 0.175 C7 0.169 0.153 0.155 0.163 0.16 C8 0.127 0.141 0.136 0.144 0.137 C9 0.141 0.133 0.135 0.139 0.137 C10 0.125 0.129 0.144 0.152 0.1375 YÜZEY PROFİLOMETRESİ- İLK ÖLÇÜM CAM İYONOMER ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA C1 0.099 0.086 0.095 0.093 0.09325 C2 0.09 0.093 0.092 0.086 0.09025 C3 0.101 0.117 0.111 0.108 0.10925 C4 0.118 0.127 0.128 0.117 0.1225 C5 0.092 0.093 0.098 0.102 0.09625 C6 0.122 0.123 0.129 0.116 0.1225 C7 0.123 0.129 0.113 0.114 0.11975 C8 0.083 0.097 0.092 0.094 0.0915 C9 0.094 0.096 0.097 0.096 0.09575 C10 0.096 0.097 0.098 0.099 0.0975
Tablo 10: Profilometre ile beyazlatma sonrası her CİS örneğinden alınan dört farklı
yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
Tablo 11: Profilometre ile beyazlatma öncesi her kompozit rezin örneğinden alınan
dört farklı yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
Tablo 12: Profilometre ile beyazlatma sonrası her kompozit rezin örneğinden alınan
dört farklı yöndeki ölçümler ve ortalamaları.
Örneklerin beyazlatma öncesi ve sonrası yüzey profilometresi ile elde edilen ortalama pürüzlülük değerleri Grafik I’de verilmiştir.
YÜZEY PROFİLOMETRESİ- İLK ÖLÇÜM KOMPOZİT ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA K1 0.024 0.023 0.025 0.019 0.02275 K2 0.027 0.022 0.018 0.016 0.02075 K3 0.019 0.021 0.023 0.017 0.02 K4 0.022 0.017 0.029 0.021 0.02225 K5 0.022 0.024 0.025 0.022 0.02325 K6 0.026 0.022 0.029 0.031 0.027 K7 0.016 0.019 0.021 0.018 0.0185 K8 0.017 0.018 0.023 0.022 0.02 K9 0.019 0.018 0.017 0.02 0.0185 K10 0.022 0.025 0.024 0.023 0.0235
YÜZEY PROFİLOMETRESİ- SON ÖLÇÜM KOMPOZİT ÖRNEKLER (Ra-µm)
1.ölçüm 2.ölçüm 3.ölçüm 4.ölçüm ORTALAMA K1 0.044 0.039 0.031 0.03 0.036 K2 0.072 0.044 0.039 0.054 0.05225 K3 0.027 0.031 0.028 0.033 0.02975 K4 0.033 0.032 0.029 0.04 0.0335 K5 0.034 0.028 0.031 0.049 0.0355 K6 0.041 0.033 0.039 0.027 0.035 K7 0.028 0.029 0.033 0.031 0.03025 K8 0.029 0.027 0.03 0.029 0.02875 K9 0.026 0.029 0.027 0.025 0.02675 K10 0.029 0.032 0.03 0.034 0.03125
Amalgam
CİS
Kompozit
0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 Beyazlatma öncesi orta- lama pürü- zlülük Beyazlatma sonrası orta- lama pürü- zlülükµm
Grafik I: Örneklerin beyazlatma öncesi ve sonrası yüzey profilometresi ile elde
edilen ortalama pürüzlülük değerleri.
Örneklerin AFM cihazı ile yüzey pürüzlülük ve topografyasının analizinde elde edilen veriler kaydedildi.
AFM ile amalgam örneklerinden elde edilen beyazlatma öncesi ve sonrası ortalama (Ra-nm) pürüzlülük değerleri Tablo 13’te verilmiştir.
AFM ile CİS örneklerinden elde edilen beyazlatma öncesi ve sonrası ortalama