Kavramsal Değişime Farklı Bakış Açıları

Após os ensaios eletroquímicos de polarização anódica potenciodinâmica as amostras foram analisadas por microscopia óptica e suas imagens são mostradas nas Figuras 45 a 56.

(a) SMAW 2307 ZTA Raiz 100x antes ensaios eletroquímicos.

(b) SMAW 2307 Raiz - 12,5x (c) SMAW 2307 Raiz/ZTA - 100x

Figura 45: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo SMAW, com os consumíveis 2307, antes e após ensaios eletroquímicos.

ZTA MB

ZTA

MB

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA, que apresenta austenita Secundária (γ2) no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 45a).

(a) SMAW 2307 ZTA Topo 100x antes ensaios eletroquímicos.

(b) SMAW 2307 Topo/ZTA e MB - 12,5x (c) SMAW2307 Topo/MB - 100x Figura 46: Micrografias opticas das amostras de topo soldadas pelo processo SMAW,

com os consumíveis 2307, após ensaios de polarização anódica potenciodinâmica.

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 46a) e após os ensaios eletroquímicos (Figura 46b).

ZTA MB

(a) SMAW 2209 ZTA Raiz 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) SMAW 2209 Raiz/ZTA - 12,5x (c) SMAW 2209 Raiz/ZTA - 100x Figura 47: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo SMAW,

com os consumíveis 2209, antes e após ensaios eletroquímicos.

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA, como pode ser observado nas imagens após os ensaios eletroquímicos (Figura 47c). A corrosão preferencialmente na ZTA se deve à presença de austenita secundária no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 47a).

ZTA

ZTA ZTA

C

(a) SMAW 2209 ZTA Topo 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) SMAW 2209 Topo/ ZTA – 12,5x (c) SMAW 2209 Topo/ZTA - 100x Figura 48: Micrografias ópticas das amostras de topo soldadas pelo processo SMAW,

com os consumíveis 2209, antes e após ensaios eletroquímicos.

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 48a) e após os ensaios eletroquímicos (Figura 48b).

ZTA

ZTA MB

(a) GMAW 2307 ZF/ZTA/ZF Centro de espessura da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) GMAW 2307 Raiz - 12,5x (c) GMAW 2307 Raiz/ZTA – 100x Figura 49: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo GMAW,

com os consumíveis 2307, após ensaios eletroquímicos.

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas após ensaio eletroquímico. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA, como pode ser observado na Figura 49b e 49c. Percebeu-se que o ataque aconteceu de forma seletiva na fase ferrita, devido a presença de austenita secundária no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 49a).

ZTA

(a) GMAW 2307 MB/ZTA/ZF Topo da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) GMAW 2307 Topo/ZF e ZTA – 12,5x (c) GMAW 2307 Topo/ZTA - 100x Figura 50: Micrografias ópitcas das amostras de topo soldadas pelo processo GMAW,

com os consumíveis 2307, antes e após ensaios eletroquímicos.

As micrografias revelam ataque corrosivo em todas as amostras avaliadas. A corrosão aconteceu de forma localizada predominantemente na ZTA como pode ser observado nas imagens após os ensaios eletroquímicos (Figura 50b).

ZTA

ZTA

(a) GMAW 2209 ZTA Raiz da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) GMAW 2209 Raiz/ZTA – 12,5x (c) GMAW 2209 Raiz/ZTA - 100x

Figura 51: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo GMAW, com os consumíveis 2209, antes e após ensaios eletroquímico.

As micrografias após os ensaios eletroquímicos revelam ataque corrosivo nas amostras avaliadas, como observado na Figura 51b. A corrosão na ZTA se deve à presença de austenita secundária no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 51a).

(a) GMAW 2209 ZTA Topo da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) GMAW 2209 Topo/ZF e ZTA 12,5x (c) GMAW 2209 Topo/ZTA - 100x Figura 52: Micrografias ópticas das amostras de topo soldadas pelo processo GMAW,

com os consumíveis 2209, antes e após ensaios eletroquímico.

As micrografias após os ensaios eletroquímicos revelam ataque corrosivo nas amostras avaliadas. Com corrosão de forma localizada na ZTA como pode ser observado nas imagens após os ensaios eletroquímicos (Figura 52b e 52c).

ZTA

ZTA

(a) FCAW 2307 ZTA Raiz da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) FCAW 2307 Raiz - 12,5x (c) FCAW 2307 Raiz/ZTA - 100x Figura 53: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo FCAW,

com os consumíveis 2307, após ensaios eletorquímicos.

As micrografias após os ensaios eletroquímicos revelam ataque corrosivo nas amostras avaliadas. Com corrosão de forma localizada na ZTA, justificada pela presença de austenita secundária no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 53a).

ZTA

(a) FCAW 2307 ZTA Topo da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) FCAW 2307 Topo/ZTA - 12,5x (c) FCAW 2307 Topo/ZTA – 100x Figura 54: Micrografias ópticas das amostras de topo soldadas pelo processo FCAW,

com os consumíveis 2307, após ensaios eletorquímicos.

As micrografias após os ensaios eletroquímicos revelam ataque corrosivo nas amostras avaliadas. Com corrosão de forma localizada na ZTA como pode ser observado nas imagens após os ensaios eletroquímicos (Figuras 54b e 54c).

ZTA

MB

(a) FCAW 2209 ZTA Raiz da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) FCAW 2209 Raiz - 12,5x (c) FCAW 2209 Raiz/ZTA - 100x Figura 55: Micrografias ópticas das amostras de raiz soldadas pelo processo FCAW,

com os consumíveis 2209, após ensaios eletorquímicos.

As micrografias após os ensaios eletroquímicos revelam ataque corrosivo nas amostras avaliadas. Com corrosão de forma localizada na ZTA (Figuras 55b e 55c), justificada pela presença de austenita secundária no interior dos grãos ferríticos, principalmente na região de raiz, onde se tem um reaquecimento dos passes subsequentes, como pode ser observado nas imagens antes dos ensaios eletroquímicos (Figura 55a).

ZTA

(a) FCAW 2209 ZTA Topo da solda 100x antes dos ensaios eletroquímicos.

(b) FCAW 2209 Topo/ZTA - 12,5x (c) FCAW 2209 Topo/ZTA – 100x Figura 56: Micrografias ópticas das amostras de topo soldadas pelo processo FCAW,

com os consumíveis 2209, após ensaios eletorquímicos.

A corrosão aconteceu de forma localizada na ZTA, com características de corrosão seletiva da fase ferrita, identificada pela parte mais escura da estrutura do material. As micrografias revelam que, de uma maneira geral, as amostras de topo soldadas pelo processo FCAW apresentaram-se menos atacadas que as soldadas pelos processos SMAW e GMAW, sugerindo o comportamento de corrosão generalizada.