B. AB Mevzuatı ve RKHK Kapsamında Kötüye Kullanma Kavramı
4. Bir Pazardaki Hakim Durumun Diğer Pazarda Kötüye Kullanılması
Esta seção está reservada para técnica de caracterização feita pelo microscópio eletrônico de varredura, o MEV. Tais medidas foram realizadas no Núcleo de Pesquisas em Petróleo e Gás (NEPGN), na Universidade Federal do Rio Grande do Norte (UFRN).
Figura 3.6: Representação esquemática do MEV [41]
O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV), ver figura 3.6, é um poderoso instru- mento para análise microestrutural de materiais sólidos, o qual nos fornece uma imagem de fácil interpretação. A eficiência do MEV fica entre o microscópio óptico (MO) e o microscópio eletrônico de transmissão (MET).
Uma vantagem do MEV é a possibilidade de poder variar o aumento da imagem so- mente alterando a área varrida sem precisar modificar outros parâmetros. Uma consequência é a possibilidade do operador selecionar um aumento maior do que o desejado para a ima- gem, podendo então focar adequadamente o feixe na amostra e com isso obter uma correta focagem.
Conforme pode ser observado na figura 3.7, o tamanho do feixe considerado ideal, para um determinado aumento, é aquele cujas bordas do feixe tocam levemente a linha anteriormente varrida. Se o diâmetro é muito grande, ocorre uma sobreposição das linhas varridas e o resultado é uma imagem fora de foco.
Figura 3.7: Esquema da varredura do feixe de elétrons [41]
O MEV tem uma grande vantagem em relação ao microscópio óptico (MO), pois apresenta alta resolução na ordem de 2 a 5nm, cerca de 20 a 50 angstroms. Atualmente, existem MEV com a resolução de até 1nm ou 10 angstroms, enquanto que o óptico alcança no máximo 0,5 micrometros.
O MEV, comparado com o MET, apresenta uma grande facilidade na preparação de amostras. Outra consideração válida é a de que o MEV possibilita uma grande profundidade de foco (imagem com aparência tridimensional), como também a alternativa de combinar a análise microestrutural com a análise química [19].
O MEV teve seu início com o trabalho do M. Knoll (1935). Descrevendo a concepção do MEV em 1938, o pesquisador Von Ardenne, construiu o primeiro microscópio eletrônico de varredura. No entanto, somente na década de 40 surgiu o primeiro microscópio eletrônico de varredura, confeccionado pelos laboratórios da RCA, no qual era usado um feixe de elétrons secundários para se obter a imagem. Apesar do avanço tecnológico somente na década de 60 surgiria o primeiro microscópio eletrônico de varredura comercial [19].
Cap´ıtulo
Resultados
"And if your head explodes with dark forebodings too. I’ll see you on the dark side of the moon"
Brain Damage - Roger Waters
Este capítulo é dedicado à apresentação e discussão dos resultados obtidos nos proces- sos de caracterização estrutural e magnética das amostras da ferrita de manganês calcinadas entre 400o e 700oC em atmosfera ambiente e em 400oC e 500oC, em vácuo.
A caracterização estrutural das amostras de ferritas de manganês preparados me- diante o método Pechini, foi realizada por difratometria de raios-x (DRX) e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Essas técnicas são fundamentais para identificar e entender a formação das fases magnéticas e o tamanho das partículas, conhecimentos necessários para se dar continuidade ao estudo das propriedades magnéticas das ferritas de manganês.
A caracterização magnética das amostras foi realizada no magnetômetro de amostra vibrante (MAV), com medidas de curvas de magnetização por campo aplicado e também por meio de espectroscopia Mössbauer, com a finalidade de identificar quais sítios de ocupação do ferro.
4.1 Difratometria de Raio-X
Os espectros dos difratogramas de raios-x refinaram-se e indexaram-se pelo método Rietveld. Os parâmetros estruturais foram obtidos a partir de resultados existentes na literatura e no banco de dados Inorganic Crystal Structure Database (ICSD), consultados no portal da persquisa(www.portaldapesquisa.com.br) com a ajuda do programa de identificação crista- lografia Maud. Nossos difratogramas resultaram em picos de difração bem definidos, que caracateriza um processo de cristalização satisfatório e homogeneidade das amostras.
A amostra calcinada em 400oC apresentou fase simples tipo espinélio M nF e
2O4 com
tamanho de grão na ordem de 10nm. Pode-se observar no primeiro difratograma da figura 4.1 a formação dos picos referentes a fase simples tipo espinélio. Os picos em torno de 30o, 35o,
45o, 57o e 62o são compatíveis com os picos da fase MnF e
2O4 [40]. Nos picos principais 35o
e 62o temos os planos cristalinos (3, 1, 1) e (4, 4, 0) respectivamente. Através do refinamento
conseguiu-se obter o tamanho médio do cristalito, que pra esse fase foi de 8, 8nm (ver tabela 4.1).
A amostra calcinada em 500oC além da fase espinélio, possui fases secundárias,
bixbyita (MnF eO3) e hematita (F e2O3), ver figura 4.2. Os picos principais estão em 33o, 35o
e 55ocom planos cristalinos (1, 0, 4), (3, 1, 1) e (4, 4, 0) respectivamente. Nota-se a diminuição
do pico principal da fase tipo espinélio e a formação de picos das fases secundárias que começam a predominar no espectro. O tamanho médio do grão dessa amostra é da ordem de dezenas de nanômetros (ver tabela 4.1).
Figura 4.2: Difratograma de Raio-X da amostra calcinada em 500oC sob atmosfera ambiente
Tabela 4.1: Informações das amostras calcinadas sob atmosfera ambiente AMOSTRAS CALCINADAS EM ATMOSFERA AMBIENTE T(oC) FASE MAGNÉTICA D
m(nm)
400 Jacobsita 8,8
500 Jacobsita, Hematita e Bixbyita 100 600 Hematita e Bixbyita 181 700 Hematita e Bixbyita 231
As amostras calcinadas em 600oC e 700oC possuem apenas as fases M nF eO 3 e
F e2O3,com tamanho de grão na ordem de centena de nanômetros, ver tabela 4.1. A amostra
calcinada em 600oC tem os picos principais localizados em 33o e 55o com planos cristalinos
(1, 0, 4) e (4, 4, 0) respectivamente (ver figura 4.3).
Figura 4.3: Difratograma de Raio-X da amostra calcinada em 600oC sob atmosfera ambiente
A amostra calcinada em 700oC tem os picos principais localizados em 33o e 55o com
planos cristalinos (1, 0, 4) e (4, 4, 0) respectivamente. Assim como na amostra calcinada em 600oC, ver figura 4.4.
Tabela 4.2: Informações das amostras calcinadas sob vácuo AMOSTRAS CALCINADAS EM VÁCUO T(oC) FASE MAGNÉTICA D
m(nm)
400 Jacobsita 20,1
500 Jacobsita, Hematita, Bixbyita e Óxido de Manganês 68,8
As amostras calcinadas em vácuo comportaram de forma semelhante. A amostra calcinada em 400oC também mostrou apenas a fase simples tipo espinélio. Tendo picos
principais em 30o, 35oe 62ocom planos cristalinos (2, 2, 0), (3, 1, 1) e (4, 4, 0) respectivamente,
ver figuras 4.5. Todavia notou-se um aumento no tamanho do grão para 20, 1nm (ver tabela 4.2).
Figura 4.5: Difratograma de Raio-X da amostra calcinada em 400oC sob vácuo
A amostra calcinada em 500oC também mostrou as fases Jacobsita, Hematita e
Bixbyita, como na amostra calcinada a mesma temperatura em atmosfera ambiente, além de apresentar uma quantidade de Óxido de Manganês MnO, os picos principais estão em 35o, 41o e 59o com planos (3, 1, 1), (2, 0, 0) e (2, 2, 0) (ver figura 4.6). O tamanho médio
do cristalito diminuiu em relação a amostra calcinada na mesma temperatura em atmosfera ambiente (ver tabela 4.2)
Figura 4.6: Difratogramas de Raio-X das amostras calcinadas em 500oC sob vácuo
Os índices de Miller (h, k, l) dos planos cristalinos foram extraídos das cartas crista- lográficas de números: 00 − 001 − 1111, 00 − 001 − 1053, 00 − 002 − 0886, 00 − 003 − 1145.
4.2 Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
Nessa técnica utilizamos um feixe de elétrons pra determinar imagens das substâncias, ver seção 3.6. As imagens obtidas através do MEV ajudaram a confirmar a formação granular das amostras produzidas (ver figuras 4.7 e 4.8).
Figura 4.7: Imagens obtida pelo MEV das amostras calcinadas em 400 e 500oC em atmosfera
ambiente
Figura 4.8: Imagens obtida pelo MEV das amostras calcinadas em 600 e 700oC em atmosfera