Kullanım Kılavuzu
İçindekiler
1. Güvenlik ve Sorumluluk ...4
1.1 Genel Bilgiler ...4
1.2 Sorumluluk ...4
1.3 Güvenlik Talimatları ...4
1.4 Doğru Kullanım ...4
1.5 Pil Sisteminin Performansının Optimize Edilmesi ...4
2. Başlarken ...5
2.1 Kurulum ...5
2.2 Ana Menü ...6
3. Ölçüm ...7
3.1 Ölçümlerin Gerçekleştirilmesi ...7
3.2 Ölçümler Ekranı ...9
3.3 Ölçüm Yöntemleri ...11
4. Ayarlar ...21
4.1 Ölçümler ...21
4.2 Doğrulama (Performans ve Belirsizlik Denetimi) ...23
4.3 Çevirmeler (Sertlik Çevirmeleri) ...24
4.4 Raporlama ...24
5. Veri (Gezgin) ...25
5.1 Ölçümler ...25
5.2 Doğrulamalar ...27
6. Sihirbazlar ...27
6.1 Ölçüm Sihirbazı ...27
6.2 Cihaz Doğrulaması ...27
6.3 Darbe Yönü Kalibrasyonu (sadece Leeb) ...28
6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma ...28
7. Bilgi ...30
7.1 Belgeler ...30
8. Sistem ...30
8.1 Kullanıcı Ayarları ...30
8.2 Problar ...31
8.3 Donanım ...31
8.4 Tarih ve Saat ...31
8.5 Dil ...31
8.6 Cihaz bilgileri ...31
8.7 Fabrika sıfırlaması (varsayılan ayarlar) ...31
9. Bakım ve Destek ...31
9.1 Bakım ...31
9.2 Destek Kavramı ...33
9.3 Standart Garanti ve Uzatılmış Garanti ...33
9.4 Elden Çıkarma ...33
10. Sorun giderme ...33
10.1 Hatalı Ölçümler / Başarısız Performans Denetimi ...33
10.2 Okuma Görüntülenmiyor ...34
10.3 Pil ...35
10.4 Dokunmatik Ekranın Kalibrasyonu ...35
11. Equotip Link Yazılımı ...35
11.1 Equotip Link'in Başlatılması ...35
11.2 Uygulama Ayarları ...35
11.3 Bir Equotip 550 Dokunmatik Ekran Birimine Bağlanma ...36
11.4 Portable Rockwell Probuna Bağlantı ...36
11.5 Ayarların Yapılması ...36
11.6 Verilerin Dışarı Gönderilmesi ...37
12. Teknik Özellikler ...38
12.1 Ölçüm Cihazı ...38
12.2 Güç Kaynağı ...38
12.3 Equotip Leeb Darbe Cihazları ...39
12.4 Equotip Portable Rockwell Prob...39
13. Standartlar ve Yönergeler...39
14. Sipariş Bilgileri ...40
14.1 Birimler ...40
14.2 Darbe Cihazları ve Problar ...40
14.3 Parçalar ve Aksesuarlar ...41
1. Güvenlik ve Sorumluluk
1.1 Genel Bilgiler
Bu kılavuz, Equotip 550 cihazının güvenliği, kullanımı ve bakımı konusunda önemli bilgiler içerir. Ölçüm cihazının ilk kullanımından önce kılavuzu baştan sona dikkatle okuyun.
1.2 Sorumluluk
“Satış ve Teslimata İlişkin Genel Koşullar”ımız her durumda geçerlidir. Aşağı- daki nedenlerden biri veya birkaçından kaynaklanan yaralanmalar ve maddi hasarlar için garanti ve sorumluluk taleplerinde bulunulamaz:
• Ölçüm cihazının bu kılavuzda açıklanmış olan tasarlanan kullanım amacına uygun olarak kullanılmaması.
• Ölçüm cihazının ve parçalarının işletimi ve bakımı için hatalı performans kontrolü.
• Ölçüm cihazının ve parçalarının performans kontrolü, işletimi ve bakımının ele alındığı kılavuz bölümlerine uyulmaması.
• Ölçüm cihazında ve parçalarında izinsiz değişiklikler yapılması.
• Yabancı maddelerin, kazaların, vandalizm ve mücbir sebeplerin etkilerinden doğan ciddi hasarlar.
Bu kılavuzda yer alan tüm bilgiler, iyi niyetle sunulmuştur ve doğru olduğuna inanılmaktadır. Proceq SA, bilgilerin eksiksizliği ve/veya doğruluğu konusunda hiçbir garanti vermez ve tüm sorumluluğu reddeder.
1.3 Güvenlik Talimatları
Cihazın çocuklar veya alkol, ilaçlar veya ecza müstahzarlarının etkisi altındaki kimselerce kullanılmasına izin verilmez. Bu kılavuzdan haberdar olmayan kim- seler, cihazı kullanırken gözetim altında olmalıdırlar.
• Öngörülen bakımı doğru şekilde ve doğru zamanda gerçekleştirin.
• Bakım görevlerinin tamamlanmasının ardından bir işlev kontrolü gerçekleş- tirin.
1.4 Doğru Kullanım
Ölçüm cihazı sadece bu dokümanda açıklanmış olan tasarlanan kullanım ama- cı için kullanılmalıdır.
• Arızalı parçaları sadece Proceq'ten temin edilen orijinal değişim parçaları ile değiştirin.
• Aksesuarlar ancak Proceq tarafından açıkça izin verilen durumlarda ölçüm cihazına takılmalı veya bağlanmalıdır. Ölçüm cihazına başka aksesuarların takılması veya bağlanması durumunda, Proceq hiçbir garanti kabul etmez ve ürün garantisi kaybedilir.
1.5 Pil Sisteminin Performansının Optimize Edilmesi
İlk tam deşarjında ve ardından tam olarak yeniden şarj edildiğinde.
2. Başlarken
Equotip 550 tipik olarak, metalik yüzeylerin sertliğinin test edilmesinde kullanılır.
Kullanıcının Leeb geri sekme prensibinden veya Portable Rockwell prensibinden birini seçme olanağı vardır; bkz. bölüm “3.1 Ölçümlerin Gerçekleştirilmesi”.
Bu ölçüm cihazı, Equotip Leeb Darbe Cihazı U ile birlikte kağıt, film veya folyo makaralarının makara sertliğinin test edilmesinde kullanılır.
2.1 Kurulum
Equotip 550 Dokunmatik Ekran Birimine Pili takmak için, destek ayağını göste- rildiği gibi kaldırın, pili takın ve vidayla yerine sabitleyin.
Şekil 1: Pilin takılması
Ekranın sağ tarafında üç adet durum LED'i vardır. Ortadaki lamba, şarj sırasında kırmızı yanan ve pil tam olarak şarj olduğunda yeşile dönen güç göstergesidir.
Alttaki LED, uygulamaya özgü bildirim için kullanılır.
NOT! Sadece şarj için tedarik edilen pil şarj cihazını kullanın.
• Tam bir şarj < 9 saat gerektirir (Ölçüm cihazı çalışmıyorken)
Düğmeler
Birimin sağ üstünde üç adet düğme vardır:
Güç Devrede/Devre dışı – Gücü açmak veya ana ekrana dönmek için basın. Gücü devre dışı bırakmak için basılı tutun.
Programlanabilir İşlev Tuşu – Tam ekran görünümüne geçer ve bu gö- rünümden çıkar veya geçerli ekranla son görüntülenen pdf dokümanı (ör.: Kullanım Kılavuzu) arasında geçiş yapar.
Geri Düğmesi – Bir önceki ekrana döner.
Enerji Tasarrufu
Enerji tasarrufu, Sistem/Güç ayarları altından istenildiği gibi programlanabilir;
bkz. bölüm “8.3 Donanım” . Bağlantılar
1 2 Geçmeli konektörler Şekil 2: Bağlantılar
USB Ana Makine USB Cihaz
Ethernet Güç Beslemesi
Leeb Darbe Cihazları için Geçmeli konektör 1’i kullanın.
Portable Rockwell Prob için, USB Ana makine konektörünü kullanın.
USB Ana Makine:
İlave olarak bir fare, klavye veya USB bellek çubuğu bağlayın.
USB Cihaz:
PC'ye bağlayın.
2.2 Ana Menü
Başlatma sırasında, ana menü görüntülenir. Tüm işlevlere Dokunmatik ekran ile doğrudan erişilebilir. Önceki menüye dönmek için, geri düğmesine veya Dokun- matik ekranın sol üst köşesindeki geri dönüş simgesine (ok) basın.
Ölçüm:
Ölçüm görüntüleme ekranı; bkz.
bölüm “3. Ölçüm” .
Ayarlar: Uygulamaya özgü ayarlar için bkz. bölüm “4.
Ayarlar”.
Veri (Gezgin): Ölçüm cihazındaki ölçüm verilerinin gözden geçirilmesine yönelik dosya yöneticisi; bkz. bölüm “5.
Veri (Gezgin)” .
Sistem: Sistem ayarları, ör.
dil, görüntüleme seçenekleri vb.; bkz. bölüm “8. Sistem”.
Bilgi: Kullanım kılavuzu ve diğer refe- rans belgeler; bkz. bölüm “7. Bilgi”.
Sihirbazlar: Görevle ilgili iş akışları; bkz. bölüm “6.
Sihirbazlar” .
Şekil 3: Ana Menü
3. Ölçüm
3.1 Ölçümlerin Gerçekleştirilmesi 3.1.1 Leeb Test Prosedürü (Leeb U hariç)
“Otomatik” darbe yönü için otomatik telafiyi seçin; bkz. bölüm “3.2.1 Kontroller”.
“Otomatik” seçeneğine izin verilmiyorsa darbe yönünü ayarlayın ( ).
Uygun malzeme grubunu, sertlik ölçeklerini ve her bir ölçüm serisi başına düşen darbe sayısını seçin. Daha fazla bilgi için bkz. bölüm “4. Ayarlar” . “Yükleme, konum- landırma ve tetikleme” mekanizmasını takip ederek darbeleri uygulayın:
1. Darbe cihazını yükleyin – test parçası ile temas halinde değilken – bir elle sıkıca tutarak ve yükleme tüpünü kavrama tarafından yakalanıncaya kadar diğer elle kaydırarak.
2. Destek halkasını test parçası üzerinde konumlandırın. Destek halkasını test parçası üzerinde tam olarak konumlan- dırmaya, ancak önceki ölçüm izine denk getirmemeye özellikle dikkat edin.
3. Bir darbeyi tetiklemek için, tetikleme düğmesine basarak darbe uygulayıcı gövdeyi serbest bırakın. Bir darbe daha gerçekleştirmek için, bu döngüyü tekrarlayın.
Şekil 4: Leeb Test Prosedürü
Sonuncu darbe gerçekleştirildikten sonra, sertlik ortalaması ile ölçüm serisine ait diğer istatistikler görüntülenir.
NOT! Yükleme tüpünün başlangıç noktasına yavaşça geri döne- bileceğinden emin olun. Yükleme tüpünün kontrolsüz bir şekilde geriye boşalmamasına dikkat edin, bu durum cihazda kalıcı ha- sara yol açabilir.
NOT! Mümkünse DIN 50156-1 (metalik malzemeler), ASTM A956 (sadece çelik, döküm çelik ve döküm demir) veya diğer geçerli standartlarda açıklanan Leeb geri sekme yöntemi ile sertlik testi standart uygulamasını takip edin. Bunlara ulaşılamazsa kullanıcı- nın test edilecek olan numunenin her konumu için 3 ila 5 mm'lik (0,12 ila 0,20”) bir ölçüm izi mesafesinde en az n = 3 darbelik bir ortalama alması tavsiye edilir.
NOT! Bir darbe ile zaten deforme olmuş bir alana başka bir darbe uygulamayın. Ayrıca, cihazın altındaki malzeme önceki gerilimden etkilenebileceği için ve cihazın tutma aynası hasar görebileceği için, cihazı yeni test konumuna yerleşmiş durumda yüklemeyin.
3.1.3 Leeb U Test Prosedürü
Equotip 550 Leeb U kullanıcının makara kusurlarını, sertlikteki tutarsızlıkları ve düzensiz sargıları hızlı ve doğru bir şekilde tanılayarak yazdırma ve çevirme iş- lemlerine yönelik sorunların önüne geçmesini sağlar.
Equotip Darbe Cihazı Leeb U ile, otomatik darbe yönü modu desteklenmez ve kullanıcının uygun darbe yönünü manüel olarak seçmesi gerekir (90° aşağı, 45°
aşağı, 0°).
Makara sertlik testi için, hiçbir çevirme eğrisi kullanılmaz, herhangi bir malze- me grubunun seçilmesi gerekmez.
“Konumlandırma ve tetikleme” işlemini takip ederek darbeleri uygulayın.
1. Test edilecek olan makaranın üzerine probu yerleştirin. Test yüzeyine dik bir darbe sağlamak için, destek halkasının makaranın üzerine tam olarak yerleşti- ğinden emin olun.
2. Darbe cihazını iki elle sıkıca tu tarken yükleme tüpünü hafifçe aşağı kaydıra- rak yükleyin ve bir darbeyi tetikleyin.
Darbe cihazını makara üzerindeki bir sonraki noktaya taşıyın ve tekrarlayın.
Şekil 6: Leeb U Test Prosedürü
NOT! Bu Kullanım Kılavuzunda bahsedilen kimi özellikler, metal sertlik testi uygulamalarına özgüdür ve bu nedenle Equotip Leeb U için geçerli değildir.
3.1.2 Portable Rockwell Test Prosedürü
1. Test edilecek olan numunenin üzerine probu yerleştirin. Düz yüzeyler için en uygunu standart ayaktır. Silindirik cisim- ler için, özel ayaklardan birinin kullanıl- ması önerilir. Erişilmesi zor yerler içinse üçayak kullanılabilir. Daha ayrıntılı bilgi için bkz. bölüm “14. Sipariş Bilgileri”.
2. Probu yüzeye yavaşça fakat sıkı bir şekilde bastırarak ölçümü gerçekleş- tirin. Titreşimleri mümkün olduğunca baskılayın ve ekrandaki talimatları takip edin.
3. Cihaz söylediğinde probu serbest bırakın. Bu hareket de kontrollü bir şekilde yapılmalıdır. Prob çok hızlı bir şekilde serbest bırakılacak olursa bir uyarı gösterilir ve ölçümün tekrar edilmesi gerekir.
Şekil 5: Portable Rockwell Test Prosedürü
3.2 Ölçümler Ekranı 3.2.1 Kontroller
Dosya Adı: Dosya adını girin ve geri dönüş simgesine dokunun.
Kaydedilen ölçümler otomatik olarak belleğe alınacaktır.
Ölçüm Modu:
Ölçüm ile çevirme arasında
geçiş yapın. Zaman ve pil durumu
Ayarlar: ayarlar menüsüne doğrudan kısayol.
Kaydet: Ölçüm verilerini belleğe alın.
Sil: Son ölçümü silin.
Sihirbazlar:
Sihirbazlara doğrudan erişim.
Malzeme: Çevirmeler için kullanılacak malzeme grubunu seçin Darbe Yönü: Gerektiğinde darbe yönünü manuel olarak ayarlamak içindir (sadece Leeb, varsayılan olarak otomatiktir).
3.2.2 Ölçüm Görünümleri
Equotip 550, bir cihaz olarak tamamıyla özelleştirilebilir ve aynı anda üç farklı ölçüm görünümünü görüntüleyebilir. Her ekranın sağ üst köşesinde bulunan, o ekranla ilgili simge tıklanarak her bir görünüm kullanıcının gereksinimlerini karşılayacak şekilde değiştirilebilir.Sinyal Görünümü: Son etkin ölçümden elde edilen prob sinyalini görüntüleyin. Bu seçenek, ileri değerlendirmeler için kullanışlı ola- bilir.
İstatistik Görünümü: Etkin ölçüm serisi için istatistikleri görüntü- leyin. Darbe sayısı (n), Ortalama (x), Standart sapma (σ), Minimum/
Maksimum () ve Menzil () birincil ölçekte görüntülenir.
Tablo Görünümü: Etkin seriye ait ölçümleri tablo formatında gö- rüntüleyin.
Çevirme Görünümü: Gerçek değeri çevirme eğrisi üzerinde görün- tüleyin.
Sütun Görünümü: Serinin ölçümlerini sütun grafik şeklinde görün- tüleyin.
Bilgi: Seri uzunluğu, prob tipi, malzeme grubu vb. gibi ölçüm ayar- larını görüntüleyin.
Kullanıcı Görünümü: Kullanıcı; alan içerikleri için prob açısı, mini- mum, maksimum, menzil ve prob tipi arasında seçim yapabilir. Her bir kutucuğa dokunularak seçim değiştirilir.
Tek Kayıt Görünümü: Son ölçüm sonucunu hem birincil hem de ikincil sertlik ölçeklerinde görüntüleyin.
NOT! Ekran görünümleri kopyalanamaz.
3.3 Ölçüm Yöntemleri
Equotip 550 ölçüm cihazları ailesi, tek bir gösterge biriminde iki test yöntemini barındırabilir.
3.3.1 Equotip Leeb
3.3.1.1 Test Prensibi
Serbest bırakma düğmesiYükleme tüpü
Vuruş Yayı Tutma aynası Kılavuz tüp Bağlantı kablosu –
4 kutuplu ID ROM'lu darbe cihazı sensörü
Destek halkası
Darbe Uygulayıcı Gövde
Şekil 9: Bir Leeb Darbe Cihazının Şematik Görünümü
Equotip 550 darbe cihazları (D, DL, DC, C, G, S ve E) ile ölçüm yapılırken, ölçüm ucu taşıyan bir darbe uygulayıcı gövde, ölçülecek olan numuneye karşı yay enerjisi ile harekete geçirilir ve darbe uygulayıcı gövde geri seker. Darbeden önce ve sonra, darbe uygulayıcı gövdenin içindeki bir kalıcı mıknatıs, bir bobi- nin içinden geçerek ileri ve geri hareketleri ile bir gerilim sinyalini endükler. Bu endüklenme sinyali, hızlarla orantılı bir davranış gösterir. vr geri sekme hızının vi darbe hızına oranının 1000 ile çarpımı, HL (Leeb sertliği) sertlik değerini verir.
HL, bir doğrudan sertlik ölçüsüdür. HL biriminin üçüncü veya dördüncü harfi, darbe cihazına atıfta bulunur: HLD D darbe cihazı.
vr vi ·1000 HL =
Equotip Leeb U
Her ne kadar Equotip Leeb Darbe Cihazı U, ölçüm sürecini basitleştirmek ama- cıyla farklı bir yapıya sahip olsa da altında yatan prensip aynıdır.
Equotip 550, mevcut U tipi Parotester darbe cihazlarını tamamen destekler.
P ve PG tipi darbe cihazları da kullanılabilir, fakat birim aslında LP veya LPG olmasına rağmen HLU olarak gösterilir.
NOT! HLU değerleri, mevcut Parotester ölçüm cihazları üzerinde doğrudan LU ile karşılaştırılabilir.
3.3.1.2 Numunelerin Hazırlanması
Test sırasında numuneyi titreşimden uzak tutun. Hafif ve ince parçalar özellikle sabitlenmelidir; bkz. bölüm “3.3.1.6 Hafif Numunelerin Test Edilmesi” . İş parçası yüzeyinin temiz, pürüzsüz ve kuru olduğundan emin olun. Gerekirse, aseton veya izopropanol gibi uygun temizlik maddeleri kullanarak temizleyin. Su veya başka herhangi bir sıvı deterjan kullanmayın.
NOT! Testten önce test parçasının ortalama pürüzlülüğünü tah- min etmek için lütfen, tedarik edilen yüzey pürüzlülüğü karşılaş- tırma levhasını kullanın.
3.3.1.3 Standartlar
Referans verilen standartların kısa açıklamaları:
DIN 50156 Metalik malzemelerin Leeb sertlik testi
ASTM A956 Çelik ürünlerin Leeb sertlik testi için standart test yöntemi ASTM A370
ASTM E140 Brinell, Vickers, Rockwell, Yüzeysel, Knoop, Skleroskop ve Leeb sertliği arasında metallere yönelik bağıntılar için standart sertlik çevirme tabloları
ISO 18265 Metalik malzemeler – Sertlik değerlerinin çevrilmesi ISO 16859 Metalik malzemelerin Leeb sertlik testi
3.3.1.4 Test Koşulları
Sağlıklı sertlik okumaları elde etmek için, aşağıdaki koşullar karşılanmalıdır. Bir veya daha fazla koşulun karşılanmaması halinde, ölçüm sonucu anlamlı derecede yanlış olabilir.
Darbe cihazının tipi D/DC/DL/S/E G C
Yüzey hazırlama Pürüzlülük derecesi sınıfı ISO 1302 N7 N9 N5
Maks. pürüz derinliği Rt (μm / μinç) 10 / 400 30 / 1200 2,5 / 100
Ortalama pürüz derinliği Ra (μm / μinç) 2 / 80 7 / 275 0,4 / 16
Minimum numune kütlesi
Kompakt şekilli (kg / lb) 5 / 11 15 / 33 1,5 / 3,3
Katı kaide üzerinde (kg / lb) 2 / 4,5 5 / 11 0,5 / 1,1
Plakaya bağlı halde (kg / lb) 0,05 / 0,2 0,5 / 1,1 0,02 / 0,045
Minimum numune
kalınlığı Ayrık (mm / inç) 25 / 0,98 70 / 2,73 15 / 0,59
Bağlaşık (mm / inç) 3 / 0,12 10 / 0,4 1 / 0,04
Yüzey tabakası kalınlığı (mm / inç) 0,8 / 0,03 0,2 / 0,008
Minimum boşluk Ölçüm izi ile numune kenarı arasında 5 mm (1/5 in) 8 mm (1/3 in) 4 mm (1/6 in)
Ölçüm izleri arasında 3 mm (1/8 in) 4 mm (1/6 in) 2 mm (1/12 in)
Test yüzeyindeki iz ölçüleri
300 HV, 30 HRC ile Çap (mm / inç) 0,54 / 0,021 1,03 / 0,04 0,38 / 0,015
Derinlik (μm / μinç) 24 / 960 53 / 2120 12 / 480
600 HV, 55 HRC ile Çap (mm / inç) 0,45 / 0,017 0,9 / 0,035 0,32 / 0,012
Derinlik (μm / μinç) 17 / 680 41 / 1640 8 / 2560
800 HV, 63 HRC ile Çap (mm / inç) 0,35 / 0,013 0,30 / 0,011
Derinlik (μm / μinç) 10 / 400 7 / 280
Tablo 1: Test Parçası Gerekleri
3.3.1.5 Equotip Leeb Darbe Cihazının Seçilmesi
Çeşitli metalik malzemelerin ve numune geometrilerinin en iyi testi için, “Tablo 1: Test Parçası Gerekleri” ne göre bir dizi darbe cihazı mevcuttur.
G Tipi: Artırılmış darbe kuvveti. Ağır dökümler ve dövme malzemeler gibi homojen olmayan, katı bileşenler içindir.
Darbe kuvveti: 90 Nmm
D Tipi: Üniversal birim. Sertlik testi gereksinimlerinizin çoğunluğu içindir.
Darbe kuvveti: 11 Nmm
C Tipi: Azaltılmış darbe kuvveti. Yüzeyi sertleştirilmiş bileşenler, kaplamalar, ince cidarlı veya darbeye duyarlı bileşenler (küçük ölçüm izi).
Darbe kuvveti: 3 Nmm
DL Tipi: İnce ön eleman.
Dar alanlardaki, oluk tabanlarındaki veya gömme yüzeylerdeki ölçümler içindir.
Darbe kuvveti: 11 Nmm DC Tipi: Kısa cihaz. Çok dar alanlarda, örneğin
deliklerde, silindirlerde veya monte haldeki makineler üzerinde yapılacak dahili ölçümlerde kullanım içindir. Darbe kuvveti: 11 Nmm
S Tipi: Si3N4 ölçüm ucu. Özellikle çok yüksek sertlik aralığındaki (50 HRC / 650 HV üzerinde) testler içindir: Yüksek karbür içeriğine sahip takım çelikleri.
Darbe kuvveti: 11 Nmm
E Tipi: Elmas ölçüm ucu.
Çok yüksek sertlik aralığındaki (50 HRC / 650 HV üzerinde) testler içindir: Yüksek karbür içeriğine sahip takım çelikleri.
S tipinden daha dayanıklıdır.
Darbe kuvveti: 11 Nmm Şekil 10: Equotip Leeb Darbe Cihazları
3.3.1.7 Eğri Yüzeylerin Test Edilmesi
Ölçüm cihazı ancak darbe uygulayıcı gövdenin ucundaki ölçüm ucu darbe anın- da tam olarak tüpün ucundaysa düzgün çalışır. İçbükey veya dışbükey yüzeyler test edilirken ölçüm ucu ya test tüpünü tamamen terk etmez ya da fazlaca dışı- na çıkar. Bu gibi durumlarda, standart destek halkasını uygun bir özel halka ile değiştirin; “14. Sipariş Bilgileri” bölümüne bakın veya yerel Proceq temsilcinize başvurun.
Şekil 11: Eğri Yüzeylerde Leeb Testi
3.3.1.6 Hafif Numunelerin Test Edilmesi
Numunelerin“3.3.1.4 Test Koşulları” bölümünde belirtilenden hafif olduğu veya numune kesitlerinin elverişsiz kütle dağılımına sahip olduğu durumlarda, dar- be uygulayıcı gövde test noktasına çarptığında numuneler titreşebilir. Bu du- rum, istenmeyen enerji soğurması ile sonuçlanır. Söz konusu numuneler katı tezgahlarla desteklenmelidir. Kütlenin özel gerekliliklerin altına düşmesi fakat yine de bağlaşım miktarının üzerinde kalması halinde, bunun daha büyük bir kütleye bağlanması, titreşimlerin önlenmesine yardım edebilir.
Bağlama işlemi için aşağıdaki gerekler karşılanmalıdır:
• Numunenin temas yüzeyi ve katı kaidenin yüzeyi aynı seviyede, düz ve pü- rüzsüz taşlanmış olmalıdır.
• Numune, bağlama işlemi için minimum numune kalınlığının üzerinde olma- lıdır. Bağlama prosedürünü takip edin.
• Numunenin temas yüzeyine ince bir katman halinde bağlama macunu sürün.
• Numuneyi desteğe sıkıca bastırın.
• Numuneyi dairesel bir hareketle itin ve darbeyi her zamanki gibi, bağlaşık yüzeye dik olarak uygulayın.
NOT! Kelepçeleme, numunede gerilme yaratabilir; bu da sertlik okumalarını etkileyebilir.
3.3.1.8 İnce Numunelerin Test Edilmesi
Borular ve tüpler kimi zaman titreşim nedeniyle Leeb sertlik testi sonucunu et- kileyebilecek kütle dağılımlarında olabilirler. Örneğin, boru hatlarının yerinde yapılan testleri sırasında, test konumları katı tezgahlarla desteklenemez veya kelepçelenemez.
Leeb testinin kolaylığından ve hızından faydalanmak için, kullanıcı, aşağıdaki kalibrasyon prosedürünü gerçekleştirdikten sonra özel bir çevirme kullanabilir;
örneğin:
• Referans numuneler üzerinde veri çiftleri ölçülür. Leeb HLDL referans ölçümleri için, bunların sahada test edilecek olanlarla aynı şekilde monte edilmiş parçalar üzerinde yapılması önemlidir. Örneğin, “5 mm Duble yumuşak tip boru” (730 HLDL / 255 HB) ve “5 mm Duble sert tip boru” (770 HLDL / 310 HB) olmak üzere iki boru numunesi, sırasıyla Equotip Leeb darbe cihazı DL ve bir Brinell test ciha- zı kullanılarak ölçülmektedir.
• “1 Çelik ve döküm çelik” için orijinal HLDL-HB çevirme eğrisi, bu iki veri noktası kullanılarak uyarlanır. Equotip 550'de özel çevirme eğrilerinin nasıl oluşturulacağına ilişkin ayrıntılı prosedür, “6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma”
bölümünde verilmiştir.
• İleride “5 mm Duble tip boru” ölçümü için, “HB Brinell” sertlik ölçeği kullanılarak
“Malzeme” – “5 mm Duble tip boru” şeklinde seçim yapılabilir; ayrıca bkz. bölüm
“6.4.3 Özel bir Çevirmeye Örnek (İki Noktalı Yöntem)” .
NOT! Kullanıcının her tüp çapı ve cidar kalınlığı için çevirme eğri- leri uyarlamasını belirlemesi ve nitelendirmesi gerekir. Nordtest Teknik Rapor Serisi 424, Rapor 99.12/13 ve ASME Nihai Rapor CRTD-91'de prosedüre ilişkin yönlendirmeler verilmiştir.
NOT! Test numunesinin geometrisi hakkındaki tüm kritik bilgilere yer verilmesi önemlidir.
3.3.1.9 Malzeme Grupları
Hiçbir çevirme uygulanmadığı için, asıl Leeb geri sekme ölçeği HL'de ölçüm yaparken herhangi bir malzeme seçmeye gerek yoktur. Bunun aksine, sertlik ölçeği çevirmeleri ancak uygun malzeme grubu seçildiğinde doğrudur. Mal- zemelerinizi varsayılan malzeme gruplarından birine atamak için, ücretsiz çevrimiçi malzeme veritabanlarından ve Equotip 550 cihazındaki referans belgelerden faydalanabilirsiniz. Çevirmelerin uygunluğu, kullanım öncesinde kalibre edilmiş numuneler üzerinde tespit edilmelidir. Ayrıntılı bilgi için lütfen bir Proceq temsilcisine başvurun.
NOT! Belirli bir test prensibi (asıl ölçek) için, aşağı açılır menüde sadece çevirmelerin yapılabileceği malzeme grupları listelenir.
NOT! Kullanılabilir bir çevirme eğrisi bulunmaması durumunda, kullanıcı kendi eğrisini oluşturma olanağına sahiptir; bkz. bölüm
“6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma” .
Çelik ve döküm çeliği Vickers Brinell Rockwell
Shore Rm N/mm²
HV HB HRBHRC HRAHS σ1σ2 σ3
81-955 81-654 38-100 20-68 30-99 275-2194 616-1480 449-847
80-950 81-646 37-100 21-68 31-97 275-2297 614-1485 449-849
101-964 101-640 22-70 61-88 28-104 340-2194 615-1480 450-846
84-1211 83-686 20-72 61-88 29-103 283-2195 616-1479 448-849
90-646 48-100
305-2194 618-1478 450-847
81-1012 81-694 20-70 30-102 275-2194 615-1479 450-846 Soğuk işlem takım çeliği Vickers
Rockwell HV
HRC 80-900
21-67 80-905
21-67 104-924
22-68 82-1009
23-70 * 98-942
20-67 Paslanmaz çelik
Vickers
Brinell Rockwell
HVHB HRBHRC
85-802 85-655 46-102 20-62
* 119-934
105-656 70-104 21-64
88-668 87-661 49-102 20-64
* *
Lamel grafitli dökme demir GG Brinell Vickers Rockwell
HBHV HRC
90-664 90-698 21-59
* * * 92-326 *
Dökme demir,
küresel grafitli GGG Brinell
Vickers Rockwell
HBHV HRC
95-686 96-724 21-60
* * * 127-364
19-37
*
Döküm alüminyum alaşımlar Brinell Vickers Rockwell
HBHV HRB
19-164 22-193 24-85
20-187
21-191 20-184
22-196 23-176
22-198 19-168
24-86
21-167 23-85 Bakır/çinko alaşımları (pirinç) Brinell
Rockwell HB
HRB 40-173
14-95 * * * * *
CuAI/CuSn alaşımları (bronz) Brinell HB 60-290 * * * * *
Biçimlendirilmiş bakır alaşımlar, düşük
alaşımlı Brinell HB 45-315 * * * * *
*Özel dönüştürme eğrisi / korelasyonu
3.3.2 Equotip Portable Rockwell 3.3.2.1 Test Prensibi
Equotip 550 Portable Rockwell Prob ile ölçüm yaparken, elmas bir ölçüm ucu test parçası içerisine cebri olarak uygulanır ve ardından serbest bırakılarak malzeme- den çıkarılır. Bu işlem boyunca iz derinliği sürekli olarak ölçülür. Toplam yük ön yüke indirgendikten sonra iz derinliği hesaplanır.
10N 50N
10N
Şekil 12: Portable Rockwell Test Prensibi
3.3.2.2 Numunelerin Hazırlanması
İş parçası yüzeyinin temiz, pürüzsüz ve kuru olduğundan emin olun. Gerekirse, aseton veya izopropanol gibi uygun temizlik maddeleri kullanarak temizleyin.
Su veya başka herhangi bir sıvı deterjan kullanmayın.
3.3.2.3 DIN 50157'ye göre Ölçüm
Ön yük altında d1 ve d2 olmak üzere iki derinlik ölçümü alınır; bunlardan ilki toplam yükün uygulanması sırasında (d1), diğeri ise toplam yük serbest bıra- kıldıktan sonra (d2) alınır. d1 ile d2 arasındaki fark, malzemenin penetrasyona verdiği deformasyon yanıtından kaynaklanır.
NOT! Ön yük ile toplam yük arasındaki penetrasyon derinliğinin hesaplanmasıyla, yüzey pürüzlülüğüne ilişkin çelişkiler önemli öl- çüde göz ardı edilmiş olur.
NOT! Portable Rockwell'deki sertlik testi prensibi, Rockwell sabit testini takip eder. Rockwell testinde, test yönü için hiçbir ayarlama gerekmez. Ancak, geleneksel sabit Rockwell testlerine göre baş- lıca üç fark bulunur:
• Test yükleri daha düşüktür.
• Portable Rockwell ölçüm ucu daha sivridir.
• Test sırasındaki bekleme süreleri daha kısadır.
NOT! “MM”, “mobil mekanik” ölçüm anlamına gelir; daha düşük uygulama yüklerini, daha sivri bir ölçüm ucu şeklini ve bir ölçüm sırasındaki daha kısa yükleme sürelerini açıkça göstermek üzere Alman standardı DIN 50157'de gerekli görülen bir yan unsurdur.
Bu farklı gösterim biçimseldir, diğer bir deyişle HMMRC sonuçları sabit HRC okumalarına eşit değilse bile çok yakın olmalıdır.
3.3.2.4 Test Koşulları
Sağlıklı sertlik okumaları elde etmek için, aşağıdaki koşullar karşılanmalıdır. Bir veya daha fazla koşulun karşılanmaması halinde, sonuç anlamlı düzeyde yanlış olabilir.
Prob kurulumu Kelep- çeli 50 N prob
Yuvarlak standart ayaklı (ø = 42 mm) 50 N prob
Üçayaklı
50 N prob Özel ayaklı 50 N prob
Minimum test
parçası kalınlığı ~20 HB'de 1 mm
~70 HRC'de 130 μm Maksimum test
parçası kalınlığı 40 mm geçersiz
Test parçası yüzey koşulu
veri dağılmasını en aza indirmek için tavsiye edilen ortalama yüzey pürüzlülüğü
Ra < 2 μm
Yüzey kavisliliği
düz yü- zeyler için kullanılacak ayak
çok küçük kavisler kabul edilebilir
18 – 70 mm kavis yarıçapı veya 70 mm – ∞ Maksimum test
parçası sertliği 70 HRC
Minimum boşluk bir teste ait iz derinliğinin çapının üç katı Tablo 3: Portable Rockwell Test Koşulları
3.3.2.5 Ölçüm Kelepçesinin Takılması
Kelepçe, çok ince veya küçük numunelerin sertlik testini kolaylaştırmak üzere tasarlanmıştır.
Dirsek Dirsek vidası
Tırtıklı vida
Prob tutucu
Şekil 13: Portable Rockwell Kelepçesi
• Dirseği çözmek için 3 mm Allen anahtar kurulum aletini kullanın. 90° çevirin.
• Probu alın ve ayağı çıkarın. Elmas ölçüm ucu monte halde kalır.
• Probu saat yönünde çevirerek kelepçenin prob tutucusuna takın (elle sıkın).
• Dirseği, ucu probun üzerinde ortalanacak şekilde çevirin; dirsek vidasını 3 mm Allen anahtar kurulum aleti yardımıyla iyice sıkın.
• Prob tutucunun altı ile numune yüzeyi arasındaki tavsiye edilen açıklık, 2 ile
NOT! Prob konektörünün elverişsiz bir konumda olması duru- munda, ayar vidasını çözün. Mekanizmadaki yayların kaybol- mayacağından emin olun. Mekanizmayı elverişli bir konuma çe- virerek ayar vidasını kılavuz kanal ile hizalayın. Prob tutucu, ayar vidasına sürtünmeden yukarı ve aşağı kaymaya devam edecek şekilde ayar vidasını kilitleyin.
3.3.2.6 Dikkate alınması gereken hususlar
• Silindirik numuneleri Z4 veya Z4+28 adaptörlerle ölçerken numunenin ke- lepçe desteği üzerinde burkulmadığından emin olun. Bu en iyi, kelepçenin arka kısmı bir masaya yaslanmışken ve kelepçenin sadece numune desteği masanın kenarından çıkıntı yapar haldeyken sağlanır.
• Yükü uygularken kolları yavaşça sıkın ve numunenin desteğe göre ayarlan- masına izin verin. Ölçüm sırasında, mümkünse numuneye dokunmayın. Ser- best bırakırken numuneyi tekrar kavrayın.
• Numune geometrisinin (örneğin, cidar kalınlığının) izin verdiği yerlerde, eller serbest şekilde yapılan ölçümler genellikle daha iyi bir ölçüm perfor- mansı sunar. Bu, özellikle silindirler üzerinde yapılan ölçümler için geçerlidir.
• Küçük çaplı çubuklar (veya yeterli sertlikteki borular) için, V-çentikli kelep- çe adaptörü Z2 tasarlanmıştır. Z2 desteğini takarken, V-çentiğin merkezinin prob tutucunun altında ortalandığından emin olun.
3.3.2.7 Standart Ayağın veya Üçayağın Takılması
Yuvarlak standart ayak, geniş metal saclar gibi, sadece tek bir taraftan erişilebilen test nesneleri üzerinde ölçümler yapılmasına olanak verir. Düz ayağın test nesnesi üzerine oynama olmadan yerleştirilemediği durum- larda üçayak kullanılır.
1. Elmas ölçüm ucu monte halde kalır.
2. Ayağı proba takın. Şekil 14: Üçayaklı Portable Rockwell
3.3.2.8 Özel Ayağın Takılması
İki adet özel ayak, Portable Rockwell'in uygulama menzilini silindirik test parça- larını kapsayacak şekilde genişletir.
1. Elmas ölçüm ucu monte halde kalır.
2. Ayağı proba takın.
3. Ayağı test parçasının üzerine yerleştirin ve ayağın üzerindeki ayar vidasını çözün.
Ardından, probu test parçasının üzerine bastırın ve ayar vidasını kilitleyin.
Şekil 15: Portable Rockwell Özel Ayakları
3.3.2.9 Ölçüm Cihazının Doğrulanması / Günlük Performans Denetimi
“6.2 Cihaz Doğrulaması” bölümüne bakın ve ekrandaki prosedürü takip edin. Doğrulama işleminin ardından yeni Portable Rockwell'iniz tamamen çalışır durumdadır ve artık ölçümlerinize geçebilirsiniz.
NOT! Probun ve gösterge cihazının mekanik ve elektronik işlev- lerini doğrulamak için, ölçüm cihazını kullanmadan önce düzenli olarak performans denetimi yapılmalıdır. Bu gereklilik ilgili sertlik standartlarına da eklenmiştir; bkz. bölüm “13. Standartlar ve Yö- nergeler” .
3.3.2.10 Çevirme Standardı
HV ve HRC cinsinden ölçümler doğrudan korelasyonlardır, bu nedenle çevir- me gerekli değildir. Kullanıcı, diğer tüm ölçeklere çevirme için ASTM E140 veya ISO 18265'i seçebilir.
3.3.2.11 Malzeme Grupları
Portable Rockwell statik iz derinliği prensibini esas aldığı için, sertlik çevirmele- ri çoğu zaman malzemeye özgü niteliklere daha az bağımlıdır.
Yine de kullanıcı gerektiğinde müşteri çevirme eğrilerini uygulama olanağına sahiptir; bkz. bölüm “6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma” .
4. Ayarlar
Şekil 16: Ayarlar Menüsü
4.1 Ölçümler 4.1.1 Prob Tipi
Prob tipleri, cihaz tarafından otomatik olarak tanınır. Varsayılan ayarlar ayarla- nabilir ve bunlar her ölçüm cihazı için kullanılacaktır.
4.1.2 Ölçüm Parametreleri
Malzeme
Varsayılan listeden istenen malzeme grubu seçilebilir, ayrıca burada görüntülene-
Birincil ve İkincil ölçekler
Kullanıcı, ölçüm sonuçlarının görüntülenmesi için iki farklı ölçek seçme olana- ğına sahiptir.
NOT! HLD'den HV, HB ve HRC'ye çevirmeler ASTM E140'a göre standartlaştırılmıştır. Portable Rockwell (µm) için yapılan çevirme- lerde, ASTM E140 ile ISO 18265 arasında geçiş yapılabilir).
NOT! Equotip Leeb Darbe Cihazı U, çevirme eğrilerini destekle- mez; bu nedenle bu ayarlar kullanılamamaktadır.
Çevirme Standartları – Leeb
Shore sertliği HS için çevirme standardı, ASTM E448'e göre varsayılan çevirme veya JIS B7731'e göre Japon çevirme standardı arasında değiştirilebilir.
NOT! Bazı Çelik tipleri için ölçümler, DIN EN ISO 18265'e göre çek- me dayanımına çevrilebilir.
Çevirme Standartları – Portable Rockwell
Varsayılan ölçüm yöntemi DIN 50157, tüm metalik malzemelerin testleri için geçerlidir ve genellikle daha fazla tutarlılık sağlar.
NOT! Çevirmeler için kullanıcı ISO'yu veya ASTM'yi seçme şansına sahiptir.
Darbe yönü (sadece Leeb)
WDL ve U cihazları hariç olmak üzere tüm Leeb darbe cihazlarında otomatik yön telafisi vardır. Bu özelliği geçersiz kılabilir ve darbe yönünü manuel olarak ayarlayabilirsiniz. Darbe yönü hakkında daha fazla bilgi için lütfen “3.3.1 Equotip Leeb” bölümüne başvurun. Darbe yönü, Portable Rockwell cihazı ile ilgili bir özellik değildir.
Birimler (sadece Portable Rockwell)
Portable Rockwell probu için, iz derinliğini metrik veya İngiliz birimleri cinsin- den görüntülemeyi seçebilirsiniz.
4.1.3 İş akışı
Kullanıcı Yönlendirmesini Etkinleştir
Bir ölçüm alınırken ekranda talimatların ve mesajların görüntülenmesi için seçin.
Gelişmiş Algoritma Kullan (sadece Portable Rockwell)
Gelişmiş Algoritma seçeneği daha hızlı ölçümler sunar. Bu, özellikle yumuşak malzemelerin testinde kullanışlıdır.
Seriyi Otomatik Kapat
Ayarlanan sayıda ölçümün ardından bir seriyi otomatik olarak sonlandırın. Kul- lanıcı, 1 ila 1000 ölçümlük bir seri ayarlayabilir.
Ölçüm Yorumu İşleme
Bu ayar ile, bir ölçüm serisinin tamamlanmasından sonra kullanıcının yorum girmesine izin verebilir veya vermeyebilirsiniz. “Serbest” olarak ayarlandığında kullanıcı bir yorum girebilir.
Ölçüm Serisi Dosya Adı
Ölçüm serisinin belleğe kaydedileceği dosya adını girin.
Klasöre Kaydet
Ölçüm serisi dosyasının belleğe kaydedileceği klasör konumunu ayarlayın.
Sinyal Verisini Belleğe Kaydet (sadece Leeb)
Leeb ölçümlerinde ham dalga biçimini belleğe kaydetmek için seçin. Portable Rockwell'de, sinyal biçimi her ölçüm için otomatik olarak belleğe kaydedilecektir.
NOT! Sinyal verilerinin belleğe kaydedilmesi, ölçüm dosyalarının bellekte daha fazla yer tutmasına neden olacaktır.
Uyarıları Etkinleştir
Yanlış ölçümleri göstermek üzere uyarı ekranı sinyallerini ve seslerini etkinleş- tirmek için seçin.
4.1.4 Sınırlar
Üst ve Alt Sınırları Etkinleştir
Bunu seçerek ölçümler için üst ve alt tolerans sınırlarının görüntülenmesini et- kinleştirebilirsiniz. Üst ve alt sınırlar arasında ayrım yapmak için belirli bir renk kodlaması benimsenir.
4.2 Doğrulama (Performans ve Belirsizlik Denetimi)
Bir doğrulamanın nasıl yapılabileceğini görmek için lütfen “6.2 Cihaz Doğrula- ması” bölümüne bakınız.
4.2.1 Test Bloğu Yönetimi
Kullanılan probun asıl gerçek ölçeğinde kalibre edilmiş bir test bloğu üzerinde ölçüm cihazının düzgün çalıştığının doğrulanması önemlidir. Test bloğu yöne- timi kısmında, farklı test bloklarına ait bilgiler belleğe kaydedilebilir. Burada sıralanan test blokları daha sonra doğrulama işleminde kullanılabilir.
4.2.2 İş akışı
Standart
Doğrulamanın hangi standarda göre yapılacağını seçin. ISO, ASTM veya müşte- ri tarafından tanımlanmış bir standart arasında seçim yapılabilir.
Minimum seri sayısı
Gerekli minimum ölçüm sayısı buradan seçilebilir. Önceden bir standart seçil-
Operatör referansı
Gerektiğinde referans operatör adı buradan girilebilir. Bu ad, doğrulama işlem- leri için kullanılacaktır. Buraya bir ad girilmezse kullanıcı yine de doğrulama işlemi sırasında bu adı girebilir.
NOT! İlk kez kullananlar: Uygun bir “Leeb ve Portable Rockwell Sertlik Testi Öğreticisi”nin tamamlanması veya kalifiye bir Proceq temsilcisi tarafından yapılan bir gösterimin izlenmesi tavsiye edi- lir.
NOT! Darbe cihazının ve gösterge cihazının mekanik ve elektronik işlevlerini doğrulamak için, ölçüm cihazının her kullanımından önce düzenli olarak performans kontrolü yapılmalıdır. Bu gerek- lilik DIN ve ASTM Leeb sertlik standartlarına da eklenmiştir; bkz.
bölüm “8.1 Kullanıcı Ayarları” .
4.2.3 Doğrulama Standartları ve Genişletilmiş Belirsizlik
Test öncesinde ölçüm cihazının doğrulanması tavsiye edilir. Bu, kullanıcıya cihazın doğru çalıştığı ve ölçüm verilerinin doğru olduğu konusunda ilave güvence verir. Doğrulama işlemi tüm Leeb ve Portable Rockwell (mekanik pe- netrasyon derinliği) standartlarında neredeyse aynı olmakla birlikte, kullanıcı tercih edilen standart/doğrulama prosedürünü takip etme seçeneğine sahiptir.
DIN 50156 Metalik malzemelerin Leeb sertlik testi.
DIN 50157 Mekanik penetrasyon derinliği ile çalışan taşınabilir ölçüm cihazları kullanılarak metalik malzemelerin sertlik testi.
ASTM A956 Çelik ürünlerin Leeb sertlik testi için standart test yöntemi.
ISO 16859 2015'te yayınlanacak ve DIN 50156'nın yerini alacaktır.
Genişletilmiş Belirsizlik (Birleşik Belir- sizlik)
Ölçüm belirsizliği analizi, test sonuçlarındaki farkları anlamak ve hatanın kaynaklarını belirlemek için uygulanır. Bir Equotip Leeb veya Equotip Portable Rockwell sertlik testi sisteminin belirsizliği bir istatistiksel bileşenden, ölçüm cihazında yerle- şik bir bileşenden ve ulusal standartla kullanıcı cihazı arasın- daki metrolojik zincirden kaynaklanan bir bileşenden (izlene- bilirlik) oluşur.
Belirsizlik karmaşık bir konu olabilse de Equotip 550, sistemin birleşik belirsizliğini otomatik olarak hesaplar. Gerekli tüm bilgiler, Proceq tarafından temin edilen kalibrasyon belge- lerinde önceden mevcuttur. Buna göre, cihazda sadece bu değerlerin belirtilen alanlara eklenmesi ve ekrandaki basit adımlar takip edilerek işlemin tamamlanması gereklidir.
Bunun ardından belirsizlik verileri cihaz belleğine kaydedilir ve gerektiğinde raporlara eklenebilir.
4.3 Çevirmeler (Sertlik Çevirmeleri)
Herhangi iki sertlik ölçeği arasında hiçbir doğrudan korelasyon yoktur. Bu ne- denle, çevirmeler belirli bir alaşım için karşılaştırma testleri ile belirlenmelidir.
4.3.1 Standart Çevirmeleri
Proceq, Leeb sertlik ölçümlerini yakın bağıntılı alaşım gruplarına dayanan ve yaygın olarak kullanılan diğer sertlik ölçeklerine çevirmek üzere korelasyonlar geliştirmiştir. HLD ve Malzeme Grubu 1 (Karbon Çelikleri) için çevirmeler, ASTM E140-12b'ye göre standartlaştırılmıştır.
4.3.2 Özel Çevirme Eğrileri
Bkz. bölüm “6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma”.
4.3.2.1 Özel Telafi
Kimi durumlarda bir kullanıcı doğruluk için ideal sınırların altında kalan, aynı boyutta ve biçimdeki birden fazla numune üzerinde sertlik ölçümü yapmak zorunda kalır. ASME ve Nordtest tarafından, ideal olmayan geometriden kay- naklanan hataları düzeltmek için bir telafi faktörü uygulama stratejisinin ge- çerliliğini tespit ve teyit eden çalışmalar yayımlanmıştır. “6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma” bölümünde anahatları verilen yöntemler, Equotip test sonucuna otomatik olarak uygulanacak olan bu telafi faktörünün oluşturulması için kul- lanılabilir.
4.4 Raporlama
Ölçüm raporlarının içeriği buradan ayarlanabilir. İlgili bilgileri rapora eklemek için seçin.
4.4.1 PDF ile Raporlama
Raporları doğrudan cihaz üzerinde PDF olarak oluşturmak ve bunları taşınabi- lir USB belleğe kaydetmek olanaklıdır. Raporu oluşturulacak ölçüm dosyalarını veri gezgininden seçin, bunları bir onay işareti koyarak işaretleyin. Raporları oluşturmak için düğmesine dokunun. Bu işlemi her klasör için tekrarlayın.
NOT! Rapor seçeneği ancak ölçüm cihazına bir taşınabilir USB bel- lek takılı ise görünür.
Ya projeler ya da raporlar dışarı gönderilebilir veya isteğe bağlı olarak her ikisi de harici ortama kaydedilebilir. Seçilen her bir ölçüm serisi için ayrı bir dosya olacaktır.
4.4.2 Equotip Link ile Raporlama
Rapor oluşturmak için alternatif olarak Equotip Link PC Yazılımı da kullanılabilir.
Daha ayrıntılı bilgi için lütfen “11. Equotip Link Yazılımı” bölümüne başvurun.
5. Veri (Gezgin)
Şekil 17: Veri Gezgini Menüsü
5.1 Ölçümler
5.1.1 Ölçümlerin Belleğe Kaydedilmesi
Otomatik kapatma seçeneği devre dışı bırakılırsa veya seçilen sayıda darbeye ulaşılmazsa seri manuel olarak kapatılabilir ve belleğe alma düğmesine ( ) dokunularak seri kaydedilebilir.
Otomatik kapatma seçeneği etkinleştirilirse, seçilen darbe sayısına ulaşılır ula- şılmaz ölçüm serisi otomatik olarak belleğe kaydedilecektir.
Belleğe kaydedilen ölçümler, yeni klasör seçeneğindeki Veri Gezgini düğmesi- ne ( ) dokunularak klasörler halinde düzenlenebilir.
Yeni klasörün adını girin ve sol üst köşedeki geri düğmesine dokunarak onay- layın.
Yeni ölçümlerin kaydedileceği klasör, Settings (Ayarlar) Measurement (Öl- çüm) Save to Folder (Klasöre Kaydet) altından seçilebilir.
5.1.2 Veri Gezgini
Kaydedilen ölçüm verilerini gözden geçirmek ve yönetmek için, ana menüden Data (Veri) Measurements'ı (Ölçümler) seçin.
Her klasör ve ölçüm serisi, gezgin görünümünde bir satır olarak gösterilir.
Her seri için kullanılan prob, serinin ortalama değeri, seri adı, ölçümün tarihi ve saati görülebilir.
Liste, ilgili başlığa dokunularak sıralanabilir. Küçük ok, hangi listenin sıralandı- ğını gösterir.
Kayıtlı bir dosyayı açmak için dosyaya dokunun ve Veri Gezgini listesine geri dönmek için geri düğmesine basın.
Şekil 18: Veri Gezgininde Ölçüm Görünümü
5.1.3 Verilerin Gözden Geçirilmesi
Bir ölçüm serisinin ayrıntılı görünümünde, tüm bilgiler görülebilir ve ayarlar düzenlenebilir.
Tüm farklı görünümler arasında kullanıcının gereksinimlerine göre geçiş yapı- labilir.
Farklı görünümler hakkında daha ayrıntılı bilgi için lütfen “3.2.2 Ölçüm Görü- nümleri” bölümüne başvurun.
5.1.4 Dosyaları Sil
Ölçüm dosyaları belleğe kaydedildikten sonra bunlardan münferit darbeler çı- karılabilir. Bunun için, ölçüm serisini açın, çıkarmak istediğiniz değere dokunun ve sil düğmesine ( ) dokunun.
Veri Gezgininde tüm ölçüm dosyaları silinebilir. Bunun için, ilgili dosyaların ku- tucuğuna dokunarak seçiminizi yapın; seçili tüm dosyalar sil düğmesine ( ) dokunularak silinebilir.
Cihaz üzerinde kayıtlı tüm verileri bellekten silmek için, kök klasörde üstbilgi satırının sol ucunda bulunan kutucuğa dokunup ardından sil düğmesine ( ) dokunun.
5.1.5 Dosyaları Kopyala
Ölçüm serisini kopyalamak için, dosyayı seçin ve simgesini tıklayın. Kop- yanın oluşturulmasını istediğiniz klasöre gidin ve simgesine dokunarak dosyayı yapıştırın. Bir dosya kopyalanırken tüm öznitelikler kopyalanır
NOT! Dosya aynı klasöre eklenemez!
5.1.6 Dosyaları Kes ve Yapıştır
Mevcut ölçüm serisini bir yerden başka bir yere taşımak için, ilgili dosyaya onay işareti koyun ve simgesine dokunun. Dosyanın taşınmasını istediğiniz kla-
5.2 Doğrulamalar
Kaydedilen doğrulama verilerini gözden geçirmek ve yönetmek için, ana me- nüden “Data”yı (Veri) seçip sonra “Verifications”ı (Doğrulamalar) seçin (“6.2 Ci- haz Doğrulaması”).
Doğrulama verileri, aynen ölçüm verileri gibi belleğe kaydedilir ve yönetilir.
Sadece silmeye izin verilmez.
Her klasör ve ölçüm serisi, gezgin görünümünde bir satır olarak gösterilir.
Ayrıca her doğrulama verisi serisine ait sonuç, “geçti” veya “kaldı” olarak görün- tülenir.
6. Sihirbazlar
Sihirbazlar, Equotip 550'nin benzersiz bir özelliğidir. Bu basit adım adım tali- matlar, ne kadar deneyimli olduklarına bakılmaksızın kullanıcıların çoğunluğu- na hitap eder. Etkileşimli sihirbazlar, iş akışının hızlandırılmasını ve ölçümün güvenilirliğinin arttırılmasını sağlar.
Sihirbazlarla ilgili tüm ayarlar, System (Sistem) User Settings'den (Kullanıcı Ayarları) düzenlenebilir. Ayrıca bkz. bölüm “8.1 Kullanıcı Ayarları”.
NOT! Equotip Leeb Darbe Cihazı U için, sadece “Cihaz Doğrulaması”
sihirbazı kullanılabilir.
6.1 Ölçüm Sihirbazı
Bu özel sihirbaz, sadece numune geometrilerine ve yüzey koşullarına göre en iyi ölçüm prensibinin -örneğin, uygulamaya uygun darbe cihazının hangisi ol- duğunun- tanımlanmasını sağlar. Başlangıçta test parçasını tanımlamak için bazı temel bilgiler sağlanmalıdır. Bilgiler cihaz tarafından değerlendirildikten sonra, söz konusu uygulama ile olan ilgilerine göre sıralı bir şekilde bir dizi öne- ri görüntülenir.
İlk işlem tamamlandıktan sonra, cihaz uygun prob, uygulama kapsamı ve ha- zırlık bilgileri önerisinde bulunur. Bunun ardından ayarlar kabul edilir ve akıllı ölçüm işlemi başlar.
NOT! Lütfen doğru seri numarasının, darbe yönünün, malzeme grubunun, ölçeklerin ve sınırların yanı sıra doğru alt klasörün ve klasör adının tanımlandığını doğrulayın.
6.2 Cihaz Doğrulaması
Doğrulama işlemi sırasında, kullanıcıya tüm prosedür boyunca rehberlik edilir.
NOT! Bu sihirbaz System (Sistem) Probes (Problar) menüsün- den de başlatılabilir.
NOT! Bu sihirbazın başarıyla tamamlanması için bir Proceq refe- rans test bloğu gereklidir.
6.3 Darbe Yönü Kalibrasyonu (sadece Leeb)
Her Leeb darbe cihazı, darbe yönünün otomatik olarak telafisi için bir kalibrasyon gerektirir. Bu işlem, söz konusu sihirbaz kullanılarak kolayca gerçekleştirilir.
NOT! Tüm darbe cihazları fabrikadan kalibre edilmiş olarak sevk edilir; ancak kullanıma ve uygulamaya göre, doğrulama işlemin- den önce (bölüm “6.2 Cihaz Doğrulaması”) darbe yönünün yeni- den kalibre edilmesi önerilir. Bu işlem tamamlanmayacak olursa o an hatalı veriler elde edilebilir.
NOT! Bu sihirbaz System (Sistem) Probes (Problar) menüsün- den de başlatılabilir.
6.4 Çevirme Eğrisi Oluşturma
Varsayılan çevirmeler test edilen malzemeye uygun değilse, özelleştirilmiş bir çevirme/korelasyon oluşturulması önerilir. Bu sihirbaz, tüm işlem boyunca kul- lanıcıya basit bir şekilde yol gösterir ve karşılaştırmalı ölçümler hakkında ge- rekli tüm bilgileri sağlar.
Böylece, söz konusu malzeme üzerinde gelecekte yapılacak tüm ölçümler için kullanılmak üzere yepyeni bir çevirme eğrisi oluşturulur.
6.4.1 Çevirme Hatalarının En Aza İndirilmesi
Malzeme grubunun doğru seçilmesi koşuluyla, çevirme hataları normalde Rockwell ölçekleri için ±%2 HR'yi, HB ve HV içinse ±%10'u geçmeyecektir. Çoğu durumda, çevirme hatası anlamlı oranda düşüktür. Daha yüksek doğruluk ge- reken durumlarda veya test altındaki alaşımın standart çevirmelerden birinin kapsamına girmediği durumlarda, Equotip 550, malzemeye özgü çevirmeler tanımlanması için çeşitli yöntemler sunar.
6.4.2 Özel Çevirmelerin Ayarlanması için Yöntemler
Equotip 550, özel çevirmelerin (örneğin, HLD HRC) yapılabilmesi için üç tek- nik sunar:
Tek noktalı yöntem: Bir referans iş parçası için Leeb sertliği HLD ve istenen ölçekteki sertlik (ör.: HRC) belirlenir. Ardından, ölçülen referans verisi çifti kay- dırılan eğri üzerine oturuncaya dek, HLD-HRC şeklindeki bir standart çevirme işlevi dikey kaydırma yoluyla uyarlanır.
İki noktalı yöntem: İki veri çifti (ör.: HLD/HRC) bulmak için, biri olabildiğince yumuşak ve diğeri olabildiğince sert olmak üzere iki referans numune test edi- lir. Ardından, HLD-HRC şeklindeki bir standart çevirme işlevi, ölçülen referans verisi çiftlerinin her ikisi de eğilmiş eğri üzerine oturuncaya dek, düz bir çizgi eklenmesi yoluyla uyarlanır.
Çevirme polinomu: Geniş bir sertlik aralığına özel bir çevirmenin uygulanması gerekiyorsa, ara değer hesaplaması için kararlı bir taban bulmak üzere çok sayı- da referans numune test edilmelidir. Aşağıdaki formülde Ai polinom katsayıları tanımlanarak Equotip 550 gösterge cihazında 5. dereceye kadar polinomlar programlanabilir:
HRC(HLD) = A0 + A1· HLD + A2· HLD2 + A3· HLD3 + A4· HLD4 + A5· HLD5
Information (Bilgi) Documents (Belgeler) altından veya Proceq web sitesinin indirme bölümünden Equotip Teknik Kılavuzuna bakınız.
6.4.3 Özel bir Çevirmeye Örnek (İki Noktalı Yöntem)
“Özel çelikten” mamul iki referans numunesi üzerinde veri çiftleri (640 HLD / 41,5 HRC) ve (770 HLD / 54,5 HRC) ölçülmüştür.
İleride uyarlamalı bir HLD-HRC çevirmesi kullanarak “özel çeliği” ölçmek için,
“1 Çelik ve döküm çeliği”ne ait esas HLD-HRC çevirme eğrisi, söz konusu iki veri noktası kullanılarak eğilir. Bu örnekte, özel çevirme 41 ila 55 HRC aralığı için geçerli olacak şekilde tanımlanmıştır.
Bu eğri oluşturulduktan sonra, “HRC Rockwell C” sertlik ölçeği kullanılarak ve malzeme grubu “Customer defined” (Müşteri tarafından tanımlı) – “Special steel” (Özel çelik) yolu takip edilerek seçilebilir; ayrıca bkz. bölüm “3.3.1.8 İnce Numunelerin Test Edilmesi”.
Şekil 21: Özel Çevirme Menüsü
6.4.4 Referans Numunelerin Ölçülmesi
Numune yüzeyleri çok dikkatli bir şekilde hazırlanmalıdır ve mümkünse nu- mune, bağlama yönteminden kaçınmak için belirli geometrileri karşılamalıdır.
Equotip 550’nin işleyişi, her ölçüm serisi öncesinde Leeb test bloğu ile doğru- lanır.
Statik sertlik testi makinesinin işleyişi (HMMRC, HV, HB, HRC vb.), ilgili ölçüm ölçeğine ve menzile ait ilgili test blokları ile doğrulanmalıdır.
Bir çift karşılaştırmalı değer elde etmek üzere, en az 10 HL ölçümünün ve statik testten gelen en az 3 değerin ortalama değeri hesaplanmalıdır. Bu değerler,
7. Bilgi
Şekil 22: Bilgi Menüsü
7.1 Belgeler
Tüm dokümantasyon dosyaları cihazın bu kısmında kayıtlıdır ve gerektiğinde doğrudan görüntülenebilir.
• Hızlı Başlangıç Kılavuzu: Teslimat kapsamı dahil olmak üzere cihaz hakkın- da genel bir bakış sunar.
• Kullanım Kılavuzu: Ayrıntılı talimatlar.
• Ürün Sertifikaları: Bu ürün için geçerli sertifikalar.
• Teknik Kılavuz: Standartlara ilişkin derinlemesine teknik bilgiler, yükselen sıcaklıkların etkisi, ağır kullanım talimatları ve daha fazlası.
• Diğer belgeler daha sonra eklenebilir.
8. Sistem
Şekil 23: Sistem Menüsü
8.1 Kullanıcı Ayarları
Genel kullanıcı ayarları değiştirilebilir.
Kilitleme/Kilidi Açma: Ölçüm cihazını kilitlemek ve cihazı istenmeyen değişik- liklere karşı korumak için bu ayarı seçin.
Parola: Kilitleme/kilidi açma işlevi için bir parola ayarlanabilir. Bu alan boş bıra- kılırsa, kullanıcı ayarlarının kilidini açmak için parola gerekmez.
Ölçüm Sihirbazı: Ölçüm sihirbazlarının uygulatma şekline dair üç seçenek mevcuttur.
Doğrulama Bildirimi: Ölçüm cihazının doğrulaması zorunlu, isteğe bağlı veya devre dışı olarak ayarlanabilir. Devre dışı olarak ayarlandığında kullanıcı dolaylı bir doğrulama yapmaya zorlanmayacaktır. “İsteğe bağlı” ayarı sadece bir anım-
satmadır. “Zorunlu” veya “isteğe bağlı” seçilirse, doğrulama aralığının seçilebile- ceği bir giriş görünür.
Prob Özellikleri: Her prob tipi için, ona ait ayarları korumak üzere bir seçenek bulunur. Ayrıca, her prob tipi için, korunacak olan farklı özellikler seçilebilir.
8.2 Problar
Bağlı prob hakkındaki bilgiler buradan görüntülenebilir.
Açı kalibrasyonu: Söz konusu özel prob için açı kalibrasyonu yinelenebilir.
Bu kalibrasyon sadece Equotip Leeb Darbe Cihazları için yapılabilir.
Doğrulama: Doğrulama ölçümü serisi buradan başlatılabilir.
Kullanılan diğer problar hakkındaki bilgileri görmek için, düğmesine do- kunun.
8.3 Donanım
Kullanıcı arayüzüne ilişkin genel ayarlar ve güç seçenekleri buradan düzenle- nebilir.
Ses: Ölçüm cihazının sesli bildirimlerinin ses düzeyi ayarlanabilir veya kapatı- labilir.
Ekran: Kullanıcı, ekran arka ışığının parlaklığını ayarlayabilir.
Güç: Ölçüm cihazının ekranının kararmaya başlayacağı veya cihazın kapanaca- ğı süre, hem pille hem de AC güçle çalışma için ayarlanabilir.
8.4 Tarih ve Saat
Tarih ve saat bu alt menüden ayarlanır. Bu ayarların formatı ve saat dilimi de değiştirilebilir.
8.6 Cihaz bilgileri
Cihazla ilgili tüm bilgileri görüntülemek için sağ üst köşedeki bilgi düğ- mesine dokunun; örneğin ad, sürüm ve seri numarasının yanı sıra pil durumu da bu kısımda bulunabilir.
8.7 Fabrika sıfırlaması (varsayılan ayarlar)
Sadece sistem menüsünden Factory reset'e (Fabrika sıfırlaması) erişerek, tüm kullanıcı tercihleri ve ayarları tekrar fabrika varsayılanlarına sıfırlanabilir.
NOT! Doğrulama verileri ve özel çevirme eğrileri hariç olmak üzere tüm veriler kaybedileceği için, lütfen sıfırlama gerçekleştir- meden önce taşınabilir USB bellek kullanarak veya Equotip Link yazılımı üzerinden tüm ölçüm verilerini yedekleyin.
9. Bakım ve Destek
9.1 Bakım
Tutarlı, güvenilir ve doğru ölçümler sağlamak üzere ölçüm cihazı her yıl kalibre edilmelidir. Ancak, servis aralığı fiili deneyimlere ve kullanıma dayandırılabilir.
Daha fazla yönlendirme için ilgili standartlara başvurun.
9.1.1 Düzenli Cihaz Denetimi
Ölçüm cihazının performans denetimleri (bkz. bölüm “4.2 Doğrulama (Perfor- mans ve Belirsizlik Denetimi)” en azından günde bir kez veya en geç 1000 darbe- den sonra gerçekleştirilmelidir. Cihazın sık kullanılmaması durumunda, kontrolü bir ölçüm serisinin başlangıcından önce ve sonunda gerçekleştirin. Ayrıca, cihazı yılda bir kez yetkili bir Proceq Servis Merkezine kalibre ettirin.
9.1.2 Temizlik
Darbe cihazı: Destek halkasını çevirerek sökün. Darbe uygulayıcı gövdeyi kıla- vuz tüpten çıkarın. Kılavuz tüpü temizleme fırçası ile temizleyin.
Yeniden monte edin.
Ölçüm uçları: Leeb darbe uygulayıcı gövdelerinin ölçüm ucunu ve Portab- le Rockwell elmas ölçüm ucunu asetonla veya benzeri çözücü ile temizleyin.
(Su veya su bazlı deterjanlar kullanmayın!)
Dış gövde: Kullandıktan sonra ekranı ve dış gövdeyi temiz, kuru bir bezle te- mizleyin. Konektör soketlerini de temiz, kuru bir fırçayla temizleyin.
NOT! Cihazı kesinlikle suya batırmayın. Cihazı temizlemek için basınçlı hava, aşındırıcılar, çözücüler veya yağlama maddeleri kullanmayın.
9.1.3 Saklama
Equotip 550'yi sadece orijinal ambalajında ve tozsuz, kuru bir odada saklayın.
9.1.4 Darbe Yönü için Yeniden Kalibrasyon (sadece Leeb)
Leeb darbe cihazları için telafi işlevi, her darbe cihazına özgü olup cihazda saklı olan parametrelere dayanır. Etkin kalibrasyonun geçerliliği, System (Sistem) Probes (Problar) Angle Calibration (Açı Kalibrasyonu) seçenekleri takip edi- lip ardından “Test” düğmesine basılarak kontrol edilebilir. Her darbe yönü için, eğriden sapma ±0,2 Leeb'den (HL) küçük olmalıdır.
Parametreler, zamanla veya harici etkilerle değişebilir. Equotip Leeb darbe ci- hazlarındaki (DL tipi hariç) otomatik telafi işlevinin yeniden kalibrasyonu özel- likle aşağıdaki durumlarda tavsiye edilir:
• Darbe cihazı temizlendikten sonra veya
• Darbe cihazı uzun bir süre kullanılmadıysa veya
• Darbe uygulayıcı gövde değiştirildikten sonra.
Yeniden kalibrasyon işlevi sırayla “0° (dikey aşağı)”, “90° (yatay)” ve “180° (dikey yukarı)” seçilerek yapılır.
9.1.5 Equotip 550 İşletim Sisteminin ve Uygulamanın Güncellenmesi
Cihazı bilgisayara bağlayın. Güncellemeler, Equotip Link kullanılarak şu şekilde yapılabilir:
• Equotip Link'ten güncelleme simgesini ( ) seçin
• “Express”i (Ekspres) seçin ve “Next” (İleri) ile onaylayın.
• Cihaz tipini seçin ve “Next” (İleri) ile onaylayın.
• “Choose Communication Type” (İletişim Türünü Seç) iletişim kutusunda, Equotip ile PC arasında kullanılan iletişim türünü seçin ve ardından “Next”i (İleri) tıklayın.
• “Device search result and selection” (Cihaz arama sonucu ve seçimi) iletişim kutusunda, aşağı açılır alandaki cihaz seri numarasının güncellenecek olan cihaz olduğundan emin olun ve ardından “Next”i (İleri) tıklayın.
• PqUpgrade şimdi Proceq sunucularında mevcut güncellemeleri arayacaktır.
Bunun için, çalışan bir internet bağlantısı gereklidir.
• Ekrandaki talimatları takip ederek güncellemeyi bitirin.
NOT! Güncelleme işlemi sırasında kayıtlı veriler silinmese de, yer- leşik yazılımı güncellemeden önce bellekteki verilerin saklanması tavsiye edilir.
NOT! “Özel” güncelleme sadece gelişmiş kullanıcılar için tavsiye edilir.
9.2 Destek Kavramı
Proceq, dünya çapında hizmet ve destek birimlerimiz aracılığıyla bu ölçüm cihazı için komple bir destek hizmeti sağlamayı taahhüt etmektedir. Mevcut en son güncellemeleri ve diğer değerli bilgileri almak için, kullanıcının ürünü www.proceq.com adresinden kaydettirmesi önerilir.
9.3 Standart Garanti ve Uzatılmış Garanti
Standart garanti, satın alma tarihinden itibaren 24 ay süreyle ölçüm cihazının elektronik kısmını kapsar. Ölçüm cihazının mekanik kısmı, 6 ay süreyle garanti kapsamındadır. Satın alma tarihinden 90 gün sonrasına kadar, ölçüm cihazının elektronik kısmı için ilave bir, iki veya üç yıl süreyle uzatılmış garanti satın alı- nabilir.
9.4 Elden Çıkarma
Elektrikli aletlerin ev atıkları ile birlikte elden çıkarılmasına izin verilmez.
Atık elektrikli ve elektronik ekipmanlara ve bunların uygulamalarına iliş- kin 2002/96/EC, 2006/66/EC ve 2012/19/EC sayılı Avrupa Yönergelerine göre ve ulusal ve yerel hukuk uyarınca, ömrünü doldurmuş elektrikli alet ve piller ayrı olarak toplanmalı ve çevre açısından uygun bir geri dönüşüm tesisi- ne iade edilmelidir.
10. Sorun giderme
10.1 Hatalı Ölçümler / Başarısız Performans Denetimi 10.1.1 Leeb
Performans denetimi sırasında ortalama, ayar noktası değerine göre ±6 HL'nin üzerinde bir sapma gösteriyorsa (Leeb U için ± 12 HLU):
• Öncelikle test bloğunun temiz, pürüzsüz ve kuru olduğunu kontrol edin.
Bkz. bölüm “3.3.1.2 Numunelerin Hazırlanması”. Ayrıca, açılacak diğer ölçüm izleri için yeterli yer olmalıdır. Aksi takdirde lütfen test bloğunu değiştirin.
• Altta ölçüm ucuna ve cismin üstündeki yakalama pimine dikkat ederek darbe uygulayıcı gövdeyi temizleyin. Gerekiyorsa darbe uygulayıcı gövdeyi değiştirin.
• Darbe cihazını temizleyin.
• Destek halkasının montajını ve aşınmasını kontrol edin. Kir birikintileri olup olmadığına bakın. Temizleyin veya gerekiyorsa değiştirin.
• Hatalı malzeme grubu, sertlik ölçeği veya darbe yönü için yanlış bir ayar se- çilmiş olabilir. Bkz. bölüm “4. Ayarlar”.
• Seçilen sertlik ölçeği, izin verilen aralıkta değil (çevirme yok). Başka bir ölçek seçin.
• Münferit değerlerin çok geniş bir aralığa dağılıp dağılmadığını ve sürekli olarak çok düşük olup olmadığını kontrol edin.
• Cihaz yüzey üzerinde dik tutulmadan darbe tetikleniyor. Bu, özellikle darbe cihazı DL kullanılırken görülebilir. Daha iyi hizalama için DL pleksiglas kova- nını kullanmayı deneyin.
• Numune yeterince desteklenmiyor. Örneğin, bağlama yöntemini kullanarak numuneyi darbeye hazırlayın; bkz. bölüm “3.3.1.6 Hafif Numunelerin Test
NOT! Test bloklarının yüzeyini tekrar işlemeyin veya darbe uygu- layıcı gövdeleri yenilemeye kalkışmayın. Bu, doğruluğu bozar ve ayrıca Equotip 550'nin işleyişini bozabilir.
10.1.2 Portable Rockwell
Performans denetimi sırasında ortalama, ayar noktası değerine göre ±2 HRC'nin üzerinde bir sapma gösteriyorsa:
• Duruma göre, ayağın prob üzerine sıkıca oturduğunu veya probun kelepçe- ye sıkıca oturduğunu doğrulayın.
• Özellikle ön kısma (elmas) ve vida dişine dikkat ederek ölçüm ucunu temizleyin.
• Test bloğunun temiz, pürüzsüz ve kuru olduğunu kontrol edin. Bkz. bölüm
“3.3.2.2 Numunelerin Hazırlanması”. Ayrıca, açılacak diğer ölçüm izleri için yeterli yer olmalıdır. Aksi takdirde, ilave testler için yeterli yer yoksa test blo- ğunu değiştirin.
• Destek ayağının ve kelepçenin montajını ve aşınmasını kontrol edin. Kir biri- kintileri olup olmadığına bakın. Temizleyin veya gerekiyorsa değiştirin.
• Hatalı bir çevirme seçilmiş olabilir. Bkz. bölüm “4. Ayarlar” .
• Seçilen çevirme ölçeği, izin verilen aralıkta değil (“çevirme yok”). Başka bir sertlik ölçeği seçin
• Cihaz yüzey üzerinde dik tutulmuyorken test yapılır, bu durumda genellikle yönlendirme iletişim penceresinde bir uyarı verilir. Bu, özellikle üçayak kul- lanılırken görülebilir. Başka bir ayak kullanmayı deneyin veya probu yüzeye dik olarak hizalamak için daha fazla özen gösterin.
• Test parçası yeterince desteklenmiyor. Test parçasını teste, örneğin parçayı daha büyük bir metal parça ile destekleyerek hazırlayın.
• Probun eğilmediğinden / yüzey üzerinde hareket etmediğinden emin olun.
Bkz. bölüm “3.3.1.7 Eğri Yüzeylerin Test Edilmesi”.
• Ölçüm cihazı aşırı sapmalar göstermeye devam ediyorsa: cihazı yeniden ka- librasyon / muayene için yetkili bir Proceq Servis Merkezine gönderin.
NOT! Test bloklarının yüzeyini tekrar işlemeyin veya Proceq dışın- da ölçüm uçları kullanmaya kalkışmayın. Bu, doğruluğu bozar ve ayrıca Portable Rockwell'in işleyişini bozabilir.
10.2 Okuma Görüntülenmiyor
• Probun bağlantısını kontrol edin.
• Destek halkasını çevirerek sökün ve darbe cihazının içinde orijinal bir Equotip darbe uygulayıcı gövdenin (“equo” baskılı) takılı olduğunu kontrol edin.
• Destek halkasının darbe cihazının dişine sıkıca oturduğunu kontrol edin.
• Yükleme – tetikleme prosedürü yürütülürken darbe uygulayıcı gövdenin kurulup boşaldığını kontrol edin. Bu gerçekleşmiyorsa, darbe cihazının tut- ma aynası kırılmış olabilir veya darbe uygulayıcı gövde baş aşağı takılmıştır.
Darbe uygulayıcı gövdeyi doğru biçimde takın veya darbe cihazını bir temel Equotip Leeb darbe cihazı ile değiştirin.