• Sonuç bulunamadı

DENEY 3 SİSTEMATİK HATALARIN İNCELENMESİ

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

Share "DENEY 3 SİSTEMATİK HATALARIN İNCELENMESİ"

Copied!
6
0
0

Yükleniyor.... (view fulltext now)

Tam metin

(1)

 DENEY 3   

SİSTEMATİK HATALARIN İNCELENMESİ  

2.1 Deneyin Amacı

Bu deneyde amaç, voltmetre iç direnci (rV) ve Ampermetre iç direnci (rA)’ ya ait ölçme metotları ile ölçmelerde ki sistematik hataların düzeltilmesine ilişkin metotların incelenmesi.

2.2 Deneyle İlgili Teorik Bilgiler

Genel bir deyişle, ölçme yöntemleri veya ölçü aygıtlarından ortaya çıkan hatalara sistematik hatalar denir.

Deneyden teorik olarak beklediğimiz sonuç ile deney sonuçları arasında farka sebep olan en büyük neden ölçme aletlerinden gelir. Ölçme hataları bir başlık altında ayrıca görülecektir.

Fakat bu sınıftaki derslere yardımcı olabilmesi açısından bu ekte ölçme aletlerinin ölçme sonucuna kısaca değineceğiz.

Ölçme aletinin ölçülecek sisteme etkisi o sistemden çekeceği enerjinin küçük olmasıyla azaltılır. Bu da ölçü aletinin iç direnci diyeceğimiz unsura bağlıdır.

2.3 Deney Çalışması

2.3.1 Voltmetre İç Direncinin Ölçülmesi

Şekil 2.1

 Şekil 2.1’deki devre kurulur.

 Kaynak voltajı olarak E = 5 V DC alınır.

(2)

 R için üç farklı direnç değeri alınır. (10 k, 100 k, 1 Meg)

 Her üç direnç değeri için ampermetre ve voltmetrede değerler okunur. Tablo 2.1 ve Tablo 2.2’deki ilgili yerler doldurulur.

R U I rV (U/I)

10k

100k

1meg

Tablo 2.1

R rV rV (katalog) rV –rV(katalog)

10k

100k

1meg

Tablo 2.2

Not: rV’nin katalog değeri yaklaşık 10Meg olarak alınır.

2.3.2 Ampermetre İç Direncinin Ölçülmesi

(3)

Şekil 2.2

 Şekil 2.2’deki devre kurulur.

 Kaynak voltajı olarak E = 5 V DC alınır.

 R için üç farklı direnç değeri alınır. (100, 220, 330)

 Her üç direnç değeri için ampermetre ve voltmetrede değerler okunur. Tablo 2.3 ve Tablo 2.4’deki ilgili yerler doldurulur.

R U I rA (U/I)

100

220

330

Tablo 2.3

R rA rA (katalog) rA –rA(katalo)

(4)

100

220

330

Tablo 2.4

Not: rV’nin katalog değeri yaklaşık 10Meg olarak alınır.

2.3.3 Sistematik Hataların Ölçme Sonuçlarına Etkisi ve Düzeltme Şekli

Şekil 2.3

 Şekil 2.3’deki devre kurulur.

 Kaynak gerilimi olarak E=5V alınır.

 Rx = rA.100 (rA, Ampermetre iç direnci ölçümü ile bulunan en küçük değer olarak

(5)

 Bunun için CADET’in 1k’lık potansiyometresinden yararlanılır.

 Voltmetre 1 Nolu konuma alınır. Voltmetre üzerinde ki gerilim (U) ve Ampermetre üzerinde ki akım (I) ölçülür. Tablo 2.5’deki ilgili yerler doldurulur.

 Voltmetre 2 Nolu konuma alınır. Voltmetre üzerinde ki gerilim (U) ve Ampermetre üzerinde ki akım (I) ölçülür. Tablo 2.5 de ki ilgili yerler doldurulur.

rx 1. konum

rV/1000

Rxg (gerçek değer) Rxh(U/I) ∆Rsis=Rxg-Rxh

2. konum

Rxg (gerçek değer) Rxh(U/I) ∆Rsis=Rxg-Rxh

Tablo 2.5

2.4 Deneyde Kullanılan Malzemeler

 Ampermetre

 Voltmetre

 Çeşitli dirençler (100, 220, 330, 10k, 100k, 1Meg )

 Potansiyometre (Cadet üzerindeki kullanılabilir)

 DC güç kaynağı

 Bağlantı kabloları

2.5 Deney Sonucu

İdeal ampermetrenin iç direncinin sıfır olduğu kabul edilir. Ancak yapılan deneyler sonucu ampermetremizin küçük de olsa bir iç direnci olduğunu gözlemledik. Bu da ölçme sonuçlarında hataya neden olur.

(6)

Güç P = V x I formülü ile hesaplanır. Voltmetrelerin sonsuz iç dirence sahip oldukları kabul edilir ancak bu da mümkün değildir. Voltmetre üzerinden küçükde olsa bir akım akar ve voltmetre güç tüketir.

Kullandığımız ölçü aletleri ideal olmadıklarından matematiksel hesaplamalar ile ölçüm sonuçları arasında farklar vardır. Bu hatalara sistematik hatalar denir.

2.6 Deney ile İlgili Araştırma Soruları

1. Ölçme Hataları konusunda araştırma yaparak, hataların devreye etkisi hakkında bilgi sahibi olunuz.

Ölçme hataları, ölçmede kullanılan araçtan, ölçme yönteminden, ölçmeyi yapan kişiden, ölçmenin yapıldığı ortamdan ya da üzerinde ölçme yapılan devreden kaynaklanabilir. Ölçme sonuçlarında sabit, sistematik ve tesadüfi hatalara rastlanabilir.

2. Kalibrasyon ve Sistematik Hata ifadelerinin anlamını araştırınız.

Kalibrasyon; bir ölçü aleti veya ölçme sisteminin gösterdiği veya bir ölçüt/ölçeğin ifade ettiği değerler ile, ölçülenin bilinen değerleri arasındaki ilişkinin belli koşullar altında belirlenmesi için yapılan işlemler dizisidir. Uzunluk, ağırlık, sertlik, elektrik direnç vb. gibi herhangi büyüklüklerin ölçümlerini yapan aletlerin kabul edilen bir ölçüte göre ayarlarının yapılması ve hata sınırlarının belirlenmesi olarak anlaşılır.

Sistematik hata, ölçülen büyüklüğe, ölçmeyi yapan kişiye, ölçme koşullarına göre miktarı değişen hatalardır. Kısacası sistematik hatalar, tüm ölçümlerde değil, belli bir özelliği taşıyan ölçümlerde söz konusudur.

Referanslar

Benzer Belgeler

Halk sağlına yönelik tehdidin önemine dikkat çekmek adına DSÖ, 2011 Dünya Sağlık Gününün temasını antibiyotik direnci olarak belirlemiş ve direnç gelişimini

Bir müd­ det Vezir Cezzâr Ahmed Paşa nın mühürdar- lığında bulunmuş, sonra İstanbul a yerleşmiş, Şehzâdebaşı'ndaki Acemoğlu hamamını sa­ tın

Radyasyon spektroskopisinde bir detektörün önemli özelliğinden birisi tek enerjili (monoenerjik) kaynağın radyasyonuna olan tepkisidir. Buna detektör tepkisi

Bir meliorasyon makinasının harekete geçebilmesi için; yuvarlanma direnci, varsa meyil direnci, ivmelenme direnci ve hava direnci kuvvetlerini yenmesi gerekmektedir..

(23), VASP-P akım sitometri testini kullanarak tiyenopiridin (tiklo- pidin veya klopidogrel) alan hastalarda perkütan koroner girişim öncesi trombosit aktivitesini değerlendirmişler

Gum ve ark.n›n (16) stabil kardiyovasküler hasta- l›¤› olan 325 hastada yapt›¤› bir çal›flmada tüm has- talara baflka hiçbir antitrombotik ilaç kullan›m› ol-

Benzer ola- rak “European Committee of Antimicrobial Susceptibility Testing (EUCAST)”, 2009 yılın- da VISA tanımını tamamen kaldırarak, vankomisin MİK değeri ≥ 4 µg/ml

• Biyofilm yapısı içinde paketlenen mikroorganizmalar, planktonik formlarından farklı fenotipler sergilerler. • Ayrıca, biyosit uygulamalarına karşı yüksek düzeyde